上海赛德利思精密仪器仪表有限公司
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WGL光电轮廓仪
WGL光电轮廓仪
特点:本仪器采用非接触、光学相移干涉测量方法,测量时不损伤工件表面,能快速测得各种工件表面微观形貌的立体图形, 并分析计算出测量结果。适用于测量各种量块、光学零件表面的粗糙度;标尺、度盘的刻线深度;光栅的槽形结构镀层厚度和 镀层边界处的结构形貌;磁(光)盘、磁头表面结构测量;硅片表面粗糙度及其上图形结构测量等等。 计量研究单位工矿企业计量室,精密加工车间,也适用于高等院校和科学研究单位等。 主要技术参数 |
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