东莞市瑞凯环境检测仪器有限公司
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电子器件用加速老化试验箱,HAST高度加速老化试验箱www.hastsyx.cn用于测试产品在高温、高温高湿及压力的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，主要用于对电工、电子产品，元器件、零部件、金属材料及其材料在模拟高温、高温高湿及压力的气候条件下，对产品的物理以及其它相关性能进行测试，测试后，通过检定来判断产品的性能是否能够达到要求，以便供产品的设计、改进、检定及出厂检验使用。
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电子器件用加速老化试验箱,HAST高度加速老化试验箱http://www.hastsyx.cn/product/HASTgaoyajiasulaosyj1/192.html符合标准：
1. GB/T10589-1989 低温试验箱技术条件
2. GB/T11158-1989 高温试验箱技术条件
3. GB/T10592-1989 高低温试验箱技术条件
4. GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1试验A规程: 低温试验方法
5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2试验B规程: 高温试验方法
6. GB/T2423.22-1987试验Nb温度变化试验方法
7. GJB150.3-1986高温试验
8. GJB150.4-1986低温试验
9. IEC68-2-14 试验N
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