上海朴维商贸有限公司
上海朴维商贸有限公司
膜厚仪（测厚仪）厚度测试 仪上用标准片，各种材质，*，欢迎选购！
X射线荧光测厚仪（膜厚仪）标准片
品牌：美国calmetrics
图一、外观
calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司，其专门为仪器大厂如Fischer（菲希尔）、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE （日本电测）Thermo（热电）、Veeco、Micro Pioneer等生产制
膜厚仪（测厚仪）厚度测试 仪上用标准片，各种材质，*，欢迎选购！
X射线荧光测厚仪（膜厚仪）标准片
品牌：美国calmetrics
图一、外观
calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司，其专门为仪器大厂如Fischer(菲希尔)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE (日本电测)Thermo（热电）、Veeco、Micro Pioneer等生产制作标准样品。
应用：适用于Fischer(菲希尔)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）ELEC FINE (日本电测)、Thermo（热电）、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray测厚仪（膜厚计）
产品规格：
图二、Ag标片
银标片编号 规格说明
SILVER (Ag) 英制单位 公制单位
SAG4 4?" 0.10?m
SAG10 10?" 0.25?m
SAG40 40?" 1.00?m
SAG80 80?" 2.00?m
SAG200 200?" 5.00?m
SAG400 400?" 10.0?m
SAG800 800?" 20.0?m
SAG1200 1200?" 30.0?m
特色：标准片A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好；
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
图三、证书
所有标准片都附有NIST认证证书我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片，并附有标准片厚度值证书.
X射线荧光测厚仪（膜厚仪）标准片
品牌：美国calmetrics
calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司，其专门为仪器大厂如Fischer(菲希尔)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE (日本电测)Thermo（热电）、Veeco、Micro Pioneer等生产制作标准样品。
应用：适用于Fischer(菲希尔)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）ELEC FINE (日本电测)、Thermo（热电）、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray测厚仪（膜厚计）。
特色：标准片A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好；
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
所有标准片都附有NIST认证证书我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片，并附有标准片厚度值证书.
NiP,8%P 英制单位 公制单位
SNIP100-92 100?" 2.50?m
SNIP240-92 240?" 6.00?m
SNIP360-92 360?" 9.00?m
SNIP720-92 720?" 18.0?m
美国Calmetrics Ni/Cu型铜上镀镍标准片
可制作厚度：0.5-25um
以下为常见性厚度：
CSNI40CU999 Ni/Cu 40u" (1.00um)
CSNI80CU999 Ni/Cu 80u" (2.00um)
CSNI100CU999 Ni/Cu 100u" (0.25um)
CSNI200CU999 Ni/Cu 200u" (5.00um)
CSNI400CU999 Ni/Cu 400u" (10.0um)
CSNI800CU999 Ni/Cu 800u" (20.0um
美国Calmetrics XRF镀层标准片 每片厚度均通过美国国家标准与技术研究院（National Institute of Standards and Technology，NIST）鉴定机构认证（有证书）,其专门为仪器大厂如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生产制作标准样品。
应用 底材 可制作范围
Ag/Cu 铜 20-2000uin
Au/KVR 可伐 1-300uin
Au/Ni 镍 1-300uin
Cd/Fe 铁 20-1200uin
Cu/Fe 铁 20-1200uin
Cr/Fe 铁 20-800uin
Ni-P/Al 铝
膜厚仪（测厚仪）厚度测试 仪上用标准片，各种材质，*，欢迎选购！
X射线荧光测厚仪（膜厚仪）标准片
品牌：美国calmetrics
图一、外观
calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司，其专门为仪器大厂如Fischer(菲希尔)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE (日本电测)Thermo（热电）、Veeco、Micro Pioneer等生产制作标准样品。
应用：适用于Fischer(菲希尔)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）ELEC FINE (日本电测)、Thermo（热电）、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray测厚仪（膜厚计）
产品规格：
图二、Ag标片
银标片编号 | 规格说明 | |
SILVER (Ag) | 英制单位 | 公制单位 |
SAG4 | 4m" | 0.10mm |
SAG10 | 10m" | 0.25mm |
SAG40 | 40m" | 1.00mm |
SAG80 | 80m" | 2.00mm |
SAG200 | 200m" | 5.00mm |
SAG400 | 400m" | 10.0mm |
SAG800 | 800m" | 20.0mm |
SAG1200 | 1200m" | 30.0mm |
特色：标准片A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好；
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
图三、证书
所有标准片都附有NIST认证证书我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片，并附有标准片厚度值证书.
X射线荧光测厚仪（膜厚仪）标准片
品牌：美国calmetrics
calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司，其专门为仪器大厂如Fischer(菲希尔)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE (日本电测)Thermo（热电）、Veeco、Micro Pioneer等生产制作标准样品。
应用：适用于Fischer(菲希尔)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）ELEC FINE (日本电测)、Thermo（热电）、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray测厚仪（膜厚计）。
特色：标准片A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好；
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
所有标准片都附有NIST认证证书我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片，并附有标准片厚度值证书.
NiP,8%P | 英制单位 | 公制单位 | |
SNIP100-92 | 100m" | 2.50mm | |
SNIP240-92 | 240m" | 6.00mm | |
SNIP360-92 | 360m" | 9.00mm | |
SNIP720-92 | 720m" | 18.0mm | |
美国Calmetrics Ni/Cu型铜上镀镍标准片
可制作厚度：0.5-25um
以下为常见性厚度：
CSNI40CU999 Ni/Cu 40u" (1.00um)
CSNI80CU999 Ni/Cu 80u" (2.00um)
CSNI100CU999 Ni/Cu 100u" (0.25um)
CSNI200CU999 Ni/Cu 200u" (5.00um)
CSNI400CU999 Ni/Cu 400u" (10.0um)
CSNI800CU999 Ni/Cu 800u" (20.0um
美国Calmetrics XRF镀层标准片 每片厚度均通过美国国家标准与技术研究院（National Institute of Standards and Technology，NIST）鉴定机构认证（有证书）,其专门为仪器大厂如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生产制作标准样品。
应用 | 底材 | 可制作范围 |
Ag/Cu | 铜 | 20-2000uin |
Au/KVR | 可伐 | 1-300uin |
Au/Ni | 镍 | 1-300uin |
Cd/Fe | 铁 | 20-1200uin |
Cu/Fe | 铁 | 20-1200uin |
Cr/Fe | 铁 | 20-800uin |
Ni-P/Al | 铝 | 20-800uin |
Ni-P/Cu | 铜 | 20-800uin |
Ni-P/Fe | 铁 | 20-800uin |
Ni-P/KVR | 可伐 | 20-800uin |
Ni/Cu | 铜 | 20-1000uin |
Ni/Fe | 铁 | 20-1200uin |
Ni/Kvr | 可伐 | 20-1000uin |
Pd/Ni | 镍 | 5-250uin |
Rh/Ni | 镍 | 4-200uin |
Sn/Cu | 铜 | 40-2500uin |
Zn/Fe | 铁 | 20-1300uin |
20-800uin
Ni-P/Cu 铜 20-800uin
Ni-P/Fe 铁 20-800uin
Ni-P/KVR 可伐 20-800uin
Ni/Cu 铜 20-1000uin
Ni/Fe 铁 20-1200uin
Ni/Kvr 可伐 20-1000uin
Pd/Ni 镍 5-250uin
Rh/Ni 镍 4-200uin
Sn/Cu 铜 40-2500uin
Zn/Fe 铁 20-1300uin
您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
仪表网 设计制作，未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
