详细摘要： 美国镀金电镀膜厚测试仪可分析的样品种类繁多，包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等，检测从ppm级至高达百分含量的浓度范围，覆盖元素周期表中从AL13到U92间的...
产品型号：所在地：深圳市更新时间：2018-05-15 在线留言深圳市金东霖科技有限公司
深圳市金东霖科技有限公司
详细摘要： 美国镀金电镀膜厚测试仪可分析的样品种类繁多，包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等，检测从ppm级至高达百分含量的浓度范围，覆盖元素周期表中从AL13到U92间的...
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详细摘要： 美国镀金膜厚仪是利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。bowman膜厚测试仪结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线...
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详细摘要： 美国bowman镀金膜厚仪高性能、高精度、*稳定性、快速精确的分析带来生产成本*化，精确测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量.
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详细摘要： 美国bowman半导体膜厚测试仪主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。无数次的发明,包括使用DCM自动对焦方法和透明的准值器...
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详细摘要： 美国半导体膜厚测试仪是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量.测量更小、更快、更薄MicronX 比现有其它的X...
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详细摘要： 美国x射线膜厚测试仪 特点有：1.可测量0.01um-300um的镀层。2.可做各种镀层（多层、合金、多层鎳）的精密测量。3.除平板形外，还可测量圆形、棒形（细...
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详细摘要： 美国bowman半导体膜厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能*,而且价钱*.分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结...
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详细摘要： 美国博曼x射线膜厚仪采用x射线的荧光原理方法，这是适合测量非铁性镀层在钢材或非铁性金属底材上的厚度，甚至镍层在钢材上的厚度也可以测量。
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详细摘要： 美国进口线路板测厚仪有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。行业用于电子元...
产品型号：xrf-1所在地：深圳市更新时间：2018-05-15 在线留言
详细摘要： 美国原装镀层膜厚仪是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可...
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详细摘要： 博曼半导体膜厚测试仪结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
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详细摘要： 博曼半导体镀层膜厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。行业用于电子...
产品型号：xrf-1所在地：深圳市更新时间：2018-05-15 在线留言
详细摘要： 博曼x荧光半导体镀层测厚仪是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析...
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详细摘要： 博曼线路板电镀膜厚仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位...
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详细摘要： 博曼台式镀层膜厚仪是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量。测量更小、更快、更薄MicronX 比现有其它的XR...
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详细摘要： 博曼X射线荧光膜厚仪新型号设计，快速分析（几秒）1-4层镀层厚度，多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型，开槽式样品舱可检测大面...
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详细摘要： 博曼半导体荧光膜厚仪的优势有高性能、高精度、*稳定性：快速精确的分析带来生产成本*化，精确测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量.坚固耐用的设计：可靠近生...
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详细摘要： 博曼pcb板荧光测厚仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和*的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。测...
产品型号：xrf-1所在地：深圳市更新时间：2018-05-15 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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