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冠层分析系统对叶片面积校正系数的差值

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更新时间：2017-09-08 19:55:28浏览次数：381次

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产品简介

相关分析显示,赖的抽样法测量框与冠层分析系统法估计赖有极显著的线性相关,然而,试衣直斜偏离1:1,和所有的数据低于对角线,这是因为该分析仪器的估计方法总是比采样方法相应的测量值偏低。按值计算,赖的增加,冠层分析系统低叶面积的测定差异越大测量的抽样框。
　　一般来说果园,越大叶片之间重叠的风险越大,和叶面积越大,树冠孔的光环境是更糟的是,叶片内孔较少,和

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相关分析显示,赖的抽样法测量框与冠层分析系统法估计赖有极显著的线性相关,然而,试衣直斜偏离1:1,和所有的数据低于对角线,这是因为该分析仪器的估计方法总是比采样方法相应的测量值偏低。按值计算,赖的增加,冠层分析系统低叶面积的测定差异越大测量的抽样框。

　　一般来说果园,越大叶片之间重叠的风险越大,和叶面积越大,树冠孔的光环境是更糟的是,叶片内孔较少,和大多数的叶片在树冠的外围,特别是上罩的分布,因此也增加了叶片的聚合效应,因此,与果园LAI的增加,两种方法得到的结果不尽相同,但赖,两种方法的测量结果之间的差异的比例无显著相关性。在密植园中，用方框取样法测得LAI的范围在3.2~5.8之间，其平均值为5.0±0.2；而校正前用冠层分析系统估计LAI的范围在2.3~4.8之间，其平均值为3.3±0.2，冠层分析系统法低估了32.0%。

　　冠层分析系统鱼眼相机后删除外阅读估计赖(修正)。如图1所示,校正后的冠层分析系统来估计赖的范围在1.1~4.8之间,平均为3.8+/-0.1,比校正前增加了26.7%(相比之下冠层分析系统校正估计之前),并通过修正,估计冠层分析系统和广场之间的差值测量值的采样率降低到11.6%。尽管拟合线仍低于斜,但与校正前相比,差距明显缩小。通过调整显著改善冠层分析系统的准确性估计赖。

资料来源：http://www.tpny17.com/ 冠层分析系统

相关产品：http://www.tpny17.com/service/detail_289.html