Instec ALCT液晶参数测试仪

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产品型号ALCT系列

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更新时间：2018-04-22 10:07:04浏览次数：1494次

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上海恒商精密仪器有限公司

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产品简介

Instec液晶参数测试系统
————来自液晶院校美国科罗拉多大学的工业研发和科教用精密仪器，始于1984年。
检测范围广，测量迅速，能测包括弹性常数K22在内的所有液晶参数。

详细介绍

Instec液晶参数测试系统
————来自液晶院校美国科罗拉多大学的工业研发和科教用精密仪器，始于1984年。
检测范围广，测量迅速，能测包括弹性常数K22在内的所有液晶参数。
如果我们以下介绍的标准产品没能满足您的需求，请上海恒商作进一步咨询。

ALCT

液晶参数测试系统

功能特点

能测量所有的液晶材料参数

测量方便快捷准确，支持多通道(可选)

使用特殊材料制成的BNC线

模块化结构，可根据需求自由组合，制造成本低

设备需搭配控制软件WinLC，连接电脑使用

屏蔽箱和液晶测试罐等配件(可选)

ALCT设备功能一览表

定位	型号	功能种类	备注
学术科研	ALCTE系列	详询上海恒商	仅为科研工作者提供
物理参数测量	ALCT-PP1	zui基本的ALCT，含正、负性液晶的CV测试功能	1.弹性系数K11、K33，电阻率等 2.兼容Instec液晶盒/加电器/光学配件/温控器/冷热台
	ALCT-PG1	可测正性液晶测旋转粘度 γ1	含温控屏蔽箱和支架
	ALCT-NG1	可测负性液晶测旋转粘度 γ1	含温控屏蔽箱和支架
	ALCT-EO1S	全套EO测试系统，能测VT曲线和响应时间	两种屏蔽箱供选： 1.自带光学设备的 2.搭配外部光学设备(如偏振显微镜)使用的
工业质量控制	ALCT-IV1	单通道IV1测试系统，能测离子浓度、VHR电压保持率和RDC残余电流
	ALCT-IVM-nC	多通道（至多16）IVM测试系统，能测离子浓度、VHR电压保持率和RDC残余电流
	ALCT-IR1-nC	多通道（至多16）IR1测试系统	1.用于测试液晶面板，配有定制尺寸测试台 2.温度控制功能和多通道测试。
	ALCT—HR1	液晶材料高电阻测试系统	配有1ml液晶测试罐、屏蔽箱
客制产品	ALCT-CUST	功能模块自由组合，zui小化定制成本	1.根据需求自由组合功能 2.弹性系数K22(可选)。
*注：详询sales@hsinstrument.com