详细摘要： 7174A8x12低电流高速矩阵卡主要特点及优点:加快测量速度低漏电流(所有信号路径双刀开关、信号和防护200V,2A信号等级兼容707A和708A开关矩阵主机...
产品型号：所在地：深圳市更新时间：2023-09-07 在线留言
深圳市杰创立仪器有限公司
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详细摘要： 7174A8x12低电流高速矩阵卡主要特点及优点:加快测量速度低漏电流(所有信号路径双刀开关、信号和防护200V,2A信号等级兼容707A和708A开关矩阵主机...
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详细摘要： 7072-HV8x12高电压半导体矩阵卡主要特点及优点:两条1300V，亚皮安电流路径六条200V,20pA路径与237源测量单元(SMU)搭配使用3-lug三...
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详细摘要： 70728x12半导体矩阵卡主要特点及优点:两条亚皮安电流路径两条直流到1MHzC-V路径四条高度隔离信号路径3-lug三轴连接7072半导体矩阵卡专为半导体参...
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详细摘要： 高密度单槽708A开关矩阵主要特点及优点:专为业界生产测试而优化只需3-1/2英寸机架空间低热量产生设计-无需通风孔或风扇前后面板可插卡前面板继电器状态显示一键...
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详细摘要： 707A开关矩阵主要特点及优点:与4200-SCS无缝集成，用于半导体I-V和C-V特性分析控制双刀开关多达576通道(可扩展到2880)支持广泛的开关卡交互式...
产品型号：所在地：深圳市更新时间：2023-09-06 在线留言
详细摘要： 4200-SCS半导体特性分析系统主要特点及优点直观的、点击式Windows操作环境的远端前置放大器
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详细摘要： S510半导体可靠性测试系统主要特点及优点:为65nm栅电介质结构NBTI和TDDB测试进行优化加速可靠性建模的数据采集通过自动化并行晶圆上测试提高产出为高度灵...
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详细摘要： 自动特性分析组合(ACS)集成测试系统主要特点及优点:达到更高级别的自动化能够实现半自动和全自动探针台的系统操作能进行cassette级全自动操作支持更复杂或更...
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详细摘要： S680直流/射频参数测试系统主要特点及优点:单一平台上的晶圆级直流/射频测试专为最小化测试费用而设计应用广泛基于SECS/GEM的300mm和200mm自动化...
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