压汞仪分析技术是基于在精确控制的压力下将汞压入孔结构中的方法实现的。除快速、精确及分析范围广等优点外，压汞仪还允许用户计算得到众多样品特性

全反射 X 射线荧光光谱仪表面污染计量测量离散点的元素污染或使用完整的晶圆图

Rigaku 的 ZSX Primus 400 连续波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪专为处理非常大或重的样品而设计。

日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310通过 VPD-TXRF 进行晶圆表面污染测量超痕量元素表面污染的测量

理学台式X射线衍射仪系统将重新定义你所认为的X射线衍射仪方式。

波长色散X射线荧光光谱仪WDA-3650用于薄膜评估的X射线荧光分析仪同时对各种薄膜的薄膜厚度和成分进行无损、非接触式分析

日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪（XRD）粉末衍射、薄膜计量、SAXS、面内散射、操作测量

日本理学同步热分析仪DSC8231测量体重变化和吸热或放热反应

差示扫描量热仪DSC8231差示扫描量热法（DSC）量化熔化、转变、结晶和玻璃化转变温度等反应中的能量变化，主要用于研发;以及聚合物、制药领域的质量控制。

蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 350结合了高分辨率场发射扫描电镜（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦离子束（FIB）的优异加工能力。

蔡司FIB双束扫描电镜Crossbeam 550结合了高分辨率场发射扫描电镜（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦离子束（FIB）的优异加工能力。

应用于X射线荧光光谱仪配用的压片机作为压样模具。

德国蔡司 MultiSEM 研究合作计划速度非凡的扫描电子显微镜

雷泰MI3红外温度传感器代表在连续非接触式温度监测的新一代的性能和创新，并广泛应用于OEM应用和制造工艺中。

Pure色谱仪非常的紧凑，确保的安全性并且易于应用在Flash快速分离和HPLC样品制备中。

Chroma 3650可在一个测试头中，提供最多512 个数位通道，并具备高产能的平行测试功能， 可同时测试32 个待测晶片，以提升量产效能。

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雷泰MP150红外行扫描仪是专为使用在高要求的工业环境中使用，并可以测得运动物体的准确温度图像。

Raytek® Raynger 3i Plus 高温手持式红外测温仪设计用于满足众多工业应用中的过程性能要求，包括原生和再生金属加工以及石化和发电厂运行...

40 多年来，日本理学Simultix 15波长色散X射线荧光光谱仪系统已被广泛用作需要高吞吐量和精度的行业（例如钢铁和水泥）过程控制的元素分析工具