当前位置:上海恩迪检测控制技术有限公司>>射线衍射分析仪>> SEIFERT XRD Galaxy射线衍射单晶定向分析仪
单色光扫描系统和固定式多色光劳厄分析系统,用于单晶材料、硅圆、晶锭、涡轮叶片和太阳能光板等的定向分析和检测,可集成到产线和质量控制流程。
· XRD Galaxy SCL
采用固定式劳厄分析方法,用于确定硅圆、晶锭、涡轮叶片的取向,可进行点分析或者表面扫描检测,通过显微镜镜头和激光进行样品调整
· XRD Galaxy SCD
采用衍射的方法扫描分析样品的取向,可用于确定硅圆、晶锭、涡轮叶片的取向,可进行点分析或者表面扫描检测,通过显微镜镜头和激光进行样品调整
德国SEIFERT Analytical X-ray可根据用户的应用和要求,提供定制化的系统配置。
恩迪集团
电话:
邮箱:info
:
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,仪表网对此不承担任何保证责任。
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。