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关键特征:
· 可选190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率纳米焦点射线源
· JIMA卡空间分辨率测试可达0.5微米
· 支持多种平板探测器,探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米
纳米焦点DR检测系统 | ||
射线管 | 类型 | 穿透型纳米焦点射线管 |
管电压 | 穿透型射线管:190kV/225kV/240kV | |
冷却 | 封闭式自循环冷却 | |
焦点大小 | 0.5um (采用JIMA卡测试) | |
探测器 | 类型 | 非晶硅平板探测器 |
像素大小 | 50um /100um /127um /139um/200um | |
像素数量 | 平板探测器:>2048´2048 | |
机械系统 | 类型 | 高精度机械系统 |
有效检测范围 | 可定制化 | |
承重 | 可定制化 | |
旋转 | n´3600 | |
软件 | 类型 | 2维射线检测 |
软件功能 | 系统控制、2维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析,支持定制化软件功能 | |
屏蔽室 | 温度和湿度 | 专用空调系统,用于控制铅房内的温度和湿度 |
辐射防护 | 根据德国 RöV,法国 NFC 74 100 和美国性能标准 21 CFR 1020.40 制造,无需进一步改造的全防护屏蔽铅房。对于最终使用,须由使用人员根据当地相关法律法规申请相应的认证许可。 |
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