目录:北京爱万提斯科技有限公司>>附件>> 余弦校正器
余弦校正器是一种用于光谱辐射取样的光学元件，用于收集180°立体角内的光，从而消除了其它取样装置如裸光纤,准直透镜和积分球中由于光收集取样几何结构限制所导致的光学耦合问题。
Avantes公司提供四种不同型号的余弦校正器CC-UV/VIS和CC-VIS/NIR的有效直径为3.9mm，尺寸为18mm(长)×6.5mm(外径)。CC-UV/VIS采用特氟龙材料,特别适合200-800nm谱段,CC-VIS/NIR采用Radin石英材料,覆盖整个紫外/可见/近红外光谱范围200-2500nm。CC-UV/VIS/NIR-8MM与CC-VIS/NIR类似,但有效直径增大至8mm,尺寸为29mm(长)×12mm(外径)。特殊的CC-UV/VIS/NIR-5.0用于太阳辐射测量，有效直径为20mm,视场角为5°,比其它余弦校正器要大得多,317mm(长)×38mm(外径)。
| CC-UV/VIS | CC-VIS/NIR | CC-UV/VIS/NIR-8MM | CC-UV/VIS/NIR-5.0 | |
| 有效直径 | 3.9 mm | 8.0 mm | 20.0 mm | |
| 漫射材料 | Teflon (200-800nm),,约1 mm厚 | Radin石英(200-2500 nm), 约1.5mm厚 | ||
| 尺寸 | 6.5 mm 直径, 18 mm 长 | 12 mm 直径, | 38 mm 直径, 317 mm 长 | |
| 采样几何结构 | 接收180°视场角的光 | 接收5°视场角的光 | ||
| 接头 | SMA 905 | |||
| 工作温度 | -30°C 到 +100°C | |||
| CC-UV/VIS | 用于UV/VIS波段的余弦校正器, 包括SMA接头 |
| CC-VIS/NIR | 用于UV/VIS/NIR波段的余弦校正器, 包括SMA接头 |
| CC-UV/VIS/NIR-8MM | 用于UV/VIS/NIR波段的余弦校正器, 8mm 有效面积，包括SMA接头 |
| CC-UV/VIS/NIR-5.0 | 用于UV/VIS/NIR波段的余弦校正器, 5°视场角，包括SMA接头 |
仪表网