探针台耗材GGB探针规格

探针台耗材GGB探针规格DC disposable probe tips：

T-4-10软针（材质：纯钨99.99%，抗氧化性好，测试数据重复都高，可以多次使用，不会伤及pad表面）

直径0.2um适合FIB电路修补后的点针测试。

规格尺寸如下：

ST-20-5

探针台耗材硬针（材质：纯钨99.99%，抗氧化性好，测试数据重复都高，硬度适中，注意操作，多次使用&过度用力碰触针尖易弯圈）

规格尺寸如下： 

Active（pico）probe

12C

有源探针（含电源、支臂、探针）

探针台耗材高速度、高输入阻抗有源探头测量集成电路的内部节点电压，全直流测试能力,可以用于任何示波器，承受较大的输入电压，可以更换不同探针，方便多种测试。

规格尺寸如下：

另外，也有GGB高频探针，具体请索要资料。 

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集成电路失效分析流程中I，V CRVE的量测往往是非破坏分析的第二步(外观检查排在步)可见crve量测的重要性。随着器件的pin脚数越来越多传统的crve tracer(多为手动)没有办法满足时效的需求。Advanced推出的smart-1 ato crve tracer很好的满足了客户的需求尤其是在BGA等通讯产品方面具备安捷伦B1500和keithely4200*的便利性。国内客户有：上海宜硕、深圳宜智发、华为、珠海炬力、苏州瑞萨、苏州三星、东莞三星、SMIC、天水华天、无锡安盛、深圳沛顿、华测检测等等