登录| 注册| 产品展厅| 收藏该商铺
欢迎: | 您已成功登录: 进入管理退出登录收藏该商铺
行业产品
首页 公司档案 公司动态 产品展示 在线留言 联系我们
紫外/可见/近红外分光光度计 UH4150AD+
离子研磨仪 IM4000II
超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700
Primaide(柱后光化学衍生法)分析系统
多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus /AFM100 系统
超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列
气溶胶激光计数检测器 Nano Quantity Analyte Detector
热机械分析仪 TMA7000系列
光化学反应量热仪选配项 紫外线照射装置 PDC-7/PDC-7X 液体流量计
热电离质谱仪(邻苯二甲酸酯检查用) HM1000A
热分析软件 EMA
高性能能量色散型X射线荧光元素分析仪 EA1200VX
纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
基于设计数据的计量系统
高解析度FEB测量装置CS4800(CD-SEM)
高解析度FEB测量装置CG6300(HITACHI CD-SEM)
高分辨率FEB测长仪器 CG5000 (HITACHI CD-SEM)
半导体蚀刻系统9000系列
高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
日立样品检查自动化系统 LABOSPECT TS
* 日立LABOSPECT 008 AS
* 日立LABOSPECT 006
和光通用试剂
日立样品前处理系统 Pre-Analytical Modular System
请输入账号
请输入密码
请输验证码
(空格分隔,最多3个,单个标签最多10个字符)
请输入你感兴趣的产品
请简单描述您的需求
上传附件
请选择省份
我们将在第一时间联系您
手机+验证码登录采购后台
请勿重复留言!