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产品简介
详细介绍
光-电联用显微镜法（CLEM）系统 MirrorCLEM
MirrorCLEM是一个可简便观察光学显微镜和扫描显微镜同一位置的CLEM*1用系统。
- *1:
- CLEM (Correlative light and electron microscopy)：光学显微镜和电子显微镜的联用观察显微镜法
特点
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特点
MirrorCLEM是搭配FE-SEM，迅速并准确支援CLEM解析的系统。
使用此系统，在光学显微镜下从低倍率到高倍率清晰观察树脂切片目标结构后，让观察位置与FE-SEM样品台坐标信息同步，通过控制马达台在FE-SEM上可观察同一位置。
此外，还可实时显示光学显微镜和FE-SEM的叠加图像。
系统配置
- 超高分辨场发射扫描电子显微镜SU8200系列
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关联产品分类
- 聚焦离子束系统 (FIB/FIB-SEM)
- TEM/SEM样品前处理装置
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