EDXRF测厚仪的用途及如何划分

　　EDXRF测厚仪可用于检测多层的成分及厚度，除了计算单层物质的成分分析还要去计算多层成分及厚度，同时会遇到微小的样品位置、复杂的样品的形状(改变形状再测试厚度会变化)、上下层有相同元素等等检测难题，所以它比其它EDXRF应用更加复杂，这也是为什么EDXRF做ROHS重金属、合金分析、贵金属检测等等的厂家很多，做测厚仪的很少、做得很好的比较少的原因。那测厚仪应该如何划分呢?跟着测厚仪厂家一六仪器来了解一下吧。

　　测厚仪异形样品检测区分：

　　有对焦无变焦：只能测试平面样品或者固定凹槽深度的异形件。

　　有变焦：能测试平面样品及0-90mm凹槽落差异形样品。

　　有对焦有变焦：能快速测试平面样品，以及凹槽深度0-90mm落差的各种异形面，凹槽件。

　　测厚仪测量面积参数划分：

　　普通手持式测厚仪：常见的手持式测厚仪检测直径是5mm;

　　常规X-RAY测厚仪：常规的X-RAY测厚仪检测直径是0.5 mm;

　　专业级X-RAY测厚仪：专业级的X-RAY测厚仪可小到0.05 m㎡;

　　毛细孔百万级测厚仪：毛细孔聚焦配置的X-RAY测厚仪可小到0.02mm(价格近百万);

　　测厚仪测量涂镀层种类(算法)

　　第1代：经验系数法EC

　　需要选用大量标样来校正元素之间的吸收增强效应，样品成分越复杂，所需的标样越多。特点：在测试多层和多元复合层时比较困难，测量种类局限，加上需要多标样来校正，应用成本高。

　　第2代：基本参数法FP

　　主流计算方法，一般需要配合标样进行计算。

　　特点：无法测试重复镀层和非金属轻金属镀层。

　　第3代：

　　多元迭代法EFP算法

　　随着计算机运算能力提升，一六仪器在多种算法的基础上，通过计算元素的一次、二次、靶材荧光，吸收增强效应和散射背景等多元迭代开发出EFP核心算法。优点：只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

　　以上就是光谱测厚仪生产厂家一六仪器给大家整理的全部内容，如果大家想要了解更多关于光谱测厚仪的内容，欢迎咨询我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务。公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造领域。