308PV通用型显微分光光谱仪

308PV通用型显微分光光谱仪可加到任何支持光谱学、色度学和微区膜厚度的显微镜镜体上应用
通用型显微分光光谱仪设计用来给您的光学显微镜或探测台增加*的光谱学、彩色成像、薄膜厚度测量和色度学等功能。拥有前沿的光学、电子学和软件等优势，它可以用来更新老旧的显微分光计。
通用型显微分光光谱仪附加到开放的图像端口（photoport）上让您能够收集到纤显微308PV通用型显微分光光谱仪样品的透射比、反光率、偏振甚至是荧光性和发冷光性能。它拥有CRAIC公司产品Lightblades™分光光度计的特点，可测量光谱的范围是紫外光到近红外光。您使用通用型显微分光光谱仪甚至可在不破坏的情况下迅速轻松地获得次微米级样品高质量的光谱的图像。
通用型显微分光光谱仪是一款理想的多用途仪器，例如用于平板显示器像素点的色度学、镜质体煤块和源岩的反射测定法，或者是光学器件和半导体的薄膜厚度测量。
主要特点
拥有 Lightblades™ 分光光度计的特点，专为显微光谱学设计
用户可选择从深紫外光到近红外光范围的光谱
250至1000纳米可用光谱范围
调整，可变测量区域
热电冷却可用来改善信噪比和保持长时的稳定性
分辨率高，多可达5百万像素，还带有数字彩色成像......
拥有Lambdafire™分光计、成像控制和分析软件。 Lambdafire™也包括触屏控制。
透射比显微光谱学
反射率显微光谱学
偏振显微光谱学
薄膜厚度测量
显微样品的色度学
用rIQ™包测量折射率
自动操作
对样品温度精确地控制
包括数据分析、光谱数据库、图像分析以及更多的专业软件
NIST可追踪显微分光计标准
使用及维护都很容易
出自显微光谱学专家之手

紫外-可见-近红外光谱
508 PV™结合了成像系统，设计用来附加到任何带有图像端口的显微镜上；它可以配置成工作范围为深紫外光到可见光再到近红外光如此宽广的范围，让您的系统拥有测量如膜厚度和色度学等数据的新功能。508 PV™带有 Lightblades™科技的特点，能够测量微米级样品的透射比、反射率、偏振和荧光光谱。

荧光性
The 508 PV™ 甚至可以装配用来测量微米级样品的荧光性和冷光光谱学性能。因为508 PV™ 带有Lightblades™科技的特点，也有测量从紫外光到近红外光的荧光性和冷光性能，所以它是显材料科学、生物学、地质学等显微荧光测定的强大工具。