SE-Mapping光谱椭偏仪 返回列表页

概述SE-Mapping光谱椭偏仪

SE-Mapping  光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，采用行业前沿创新技术，配置全自动Mapping测量模块，通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征分析。

。全基片椭偏绘制化测量解决方案

。支持产品设计以及功能模块定制化，一键绘制测量

。配置Mapping模块，全基片自定义多点定位测量能力

。丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力

产品特点SE-Mapping光谱椭偏仪

采用氘灯和卤素灯复合光源，光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm)；

高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集；

具备全基片自定义多点自动定位测量能力，提供全面膜厚检测分析报告；

产品应用

广泛应用OLED，LED，光伏，集成电路等工业应用中,实现大尺寸全基片膜厚、光学常数以及膜厚分布快速测量与表征。

 武汉颐光科技有限公司（Wuhan Eoptics Technology Co,Ltd）是一家专业从事光学仪器设备研发及光机电产品制造、销售的*。公司由一批归国留学人员创办，与华中科技大学紧密合作，现有员工80%以上拥有硕士或博士学位，是光学仪器设备领域技术优势的技术团队。

       颐光科技注册于武汉东湖国家自主创新示范区，立足光谷，面向，为用户提供光学散射测量仪等系列产品，并提供仪器、软件、服务等综合解决方案。产品广泛应用于集成电路、半导体、光伏太阳能、平板显示、LED照明、存储、生物、医药、化学、电化学、光学镀膜和保护膜、减反膜、光刻材料等众多领域。