深圳鼎极天有限公司
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CMI760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度，带温补功能。采用微电阻和电涡流方式测量表面铜和孔内镀铜厚度。具有多功能性、高扩展性和*的统计功能，统计功能用于数据整理分析。
CMI 760配置包括：
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选配配件：
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SRP-4面铜探头测试技术参数：
铜厚测量范围：
线性铜线宽范围：203μm - 7620μm（8mil - 300mil）
准确度：±1%（±1μm）参考标准片
精确度：化学铜：标准差0.2%，电镀铜：标准差0.3%
分辨率：0.1μm≥10μm，0.01μm＜10μm，0.001μm＜1μm，0.01mils≥1mil，0.001mils＜1mil
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ETP孔铜探头测试技术参数：
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主机规格：
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