JDG-S2数字式立式光学计
产品简介:
数字式立式光学计JDG-S2是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精密测量,本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研,生产过程控制及在线测量等方面,对被测件作微小位移测量,及对非金属如:薄膜、纸张等的厚度测量。
JDG-S2数字式立式光学计
技术参数:
1、被测件zui大长度:200 mm
2、直接测量范围:10mm
3、zui小显示值:0.1 μm
4、测量力:(2±0.2) N
5、示值变动性:0.1 μm
6、zui大不准确度:±0.25 μm
7、读数方式:数字显示
8、zui大测量误差:±(0.5+L/100)μm ,L是被测长度,以mm计
9、仪器体积:300×170×410 mm
10、仪器重量:18 kg
标准配件:
1、可调带筋园台
2、可调园平台
3、平面测帽 Ф2
4、平面测帽 Ф8
5、小球面测帽
6、刃形测帽
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:www.sgaaa。。com
www.opticalmicroscope。。com.cn/
www.optical-sh。。com.cn/
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