NANOMAP D 光学探针双模式三维形貌仪
1. 结合了光学测量与探针测量的所有优点
2. 专业的SPIP分析软件
3. 适应各种应用领域，无论是大范围扫描还是高精度扫描
NANOMAP D 光学探针双模式三维形貌仪主要功能及应用：
多种测量功能
NANOMAP D 光学探针双模式三维形貌仪精确定量的面积（空隙率，缺陷密度，磨损轮廓截面积等）、体积（孔深，点蚀，图案化表面，材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等）、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。
薄/厚膜材料
薄/厚膜沉积后测量其表面粗糙度和台阶高度,表面结构形貌, 例如太阳能电池产品的银导电胶线
蚀刻沟槽深度，光刻胶/软膜
亚微米针尖半径选件和埃级别高度灵敏度结合，可测量沟槽深度形貌。
材料表面粗糙度、波纹度和台阶高度特性
分析软件可轻易计算40多种的表面参数，包括表面粗糙度和波纹度。计算涵盖二维或三维扫描模式。
表面光滑度和曲率
可从测量结果中计算曲率或区域曲率
薄膜二维应力
测量薄膜应力，能帮助优化工艺，防止破裂和黏附问题
表面结构和尺寸分析
无论是二维面积中的坡度和光滑度，波纹度和粗糙度，还是三维体积中的峰值数分布和承载比，本仪器都提供相应的多功能的计算分析方法。
缺陷分析和评价
*的功能性检测表面特征，表面特征可由用户自定义。一旦检测到甚至细微特征，能在扫描的中心被定位和居中，从而优化缺陷评价和分析。
