台式XRF镀层测厚仪 X-Strata980
利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
台式XRF镀层测厚仪 X-Strata980
X-Strata980 – 灵活、多元素、无损的材料分析
一款全面强大的X射线荧光分析仪,能够检测各种大小的样品
快速、精确分析固体、液体和粉末
程控台的大样品舱方便样品摆放和测量(可选)
集成电脑节省了台式仪器的空间
高分辨率检测器使检测下限降到低
应用广泛,包括光电池、RoHS有害元素筛选和贵金属分析
广州普伦仪器有限公司(以下简称:普伦仪器)是一家*, 我们主要致力于工业检测设备及相关产品的销售。我们的产品均为国外进口设备,保证您的使用效果,同时我们还将为您提供优质的售后服务。公司的技术人员在金属材料检测、质量控制领域有着丰富的经验,我们可以帮助您解决仪器的各种故障问题。公司坚持走合作和自主研发并举的道路,产品覆盖光谱分析、合金元素分析、物理测试、无损检测等领域。