半导体器件静电放电模拟器ESS-6002
针对于半导体器件设计的静电放电模拟器，电压大2000V测试电压，小电压输出10V，可应用于企业的研发和品质上，适用于敏感产品的评价试验。
符合标准
人体模型试验 (HBM) | 机械模型试验 (MM) |
AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003 | AEC-Q100-003-REV -E Jul.2003 |
ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001 | ESDA ANSI/ ESD STM5.2-1999 |
IEC61340-3-1Ed.1.0 2002 | IEC61340-3-2 Ed.1.0-2002 |
IEC60749-26 Ed.1.0 2003 | IEC60749-27 Ed.1.0 2003 |
JEDEC JESD22- A114E Jan.2007 | JEDEC JESD22- A115A Oct.1997 |
JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304 | JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 |
MIL-STD-883F 3015.7 Mar.1989 |
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半导体器件静电放电模拟器产品特点：
模拟器小输出电压可达±10V，1V步进设定，适合用于敏感元件的评价试验；（ESS-6002）
模拟器通过简易放电板，使用IC放电夹可直接对被试品进行放电，也可使用半自动精密型探针台，半自动化的对被试品进行定量的放电；
该模拟器可模拟人体放电（HBM）和机械放电（MM）；
模拟器能在端口间正确地施加相对应标准波形；
通过检测主端口，可确认放电后被试品的特性变化情况；
用波形调整用卡可改变波形上升时间；（选件）
使用半自动精密型探针台可做毫米与英寸间距的元器件脚针之间的测试；（选件）
规格：
项目 | 功能/性能 |
输出电压 | 10～2000±10%（ESS-6002） 1V步进 |
输出极性 | 正或负 |
重复周期 | 0.3 ～ 99s ±10% 到10s为止0.1s步进 10s以后1s步进 |
放电次数 | 1 ～ 99次/连续 |
外部触发输入 | 大 ±15V，BNC接口 通过TTL下降时间来控制（100us以上的LOW或者端口间短路） |
触发输出 | 输出阻抗50Ω，TTL高脉冲5ms，BNC接头 |
ITERLOCK | 端口台、端口间开路时停止试验（出货时标配短路棒） |
驱动电源 | AC100 ～ 240V ±10% 50Hz/60Hz |
功耗 | 25VA |
使用温度范围 | 15 ～ 35℃ |
保管温度范围 | -10 ～ 50℃ |
使用湿度范围 | 25 ～ 75%RH（不结霜） |
保管湿度方位 | 0 ～ 85%RH（不结霜） |
尺寸 | （W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分） |
重量 | 约6kg |
文章来自辰仪科技（emcsys）
温馨提示：NOISEKEN半导体器件静电放电模拟器ESS-6002/6008已经停产，替代产品型号暂无。
