ST-DP1506 IGBT动态参数测试系统-电子/半导体检测仪器-仪表网

公司介绍主营产品

公司简介：西安天光测控技术有限公司是一家专业从事半导体功率器件测试设备研发、生产、销售的*。产品有半导体分立器件测试筛选系统。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的电参数及可靠性和老化测试。静态单脉冲（包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数）动态双脉冲（包括Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg）Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。环境老化测试（包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等）热特性测试（包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等）各类全系列测试设备。广泛应用于半导体器件上游产业（设计、制造、封装、IDM厂商、晶圆、DBC衬板）和下游产业（院所高校、电子厂、轨道机车、新能源汽车、白色家电等元器件的应用端产业链）

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产地	国产	加工定制	是

IGBT动态参数测试系统
用于测试 IGBTs,MOSFETs, Diode,动态交流参数
1500V/600A，短路电流2500A

IGBT动态参数测试系统-电子/半导体检测仪器产品详情

IGBT动态参数测试系统

用于测试 IGBTs,MOSFETs, Diode,动态交流参数

1500V/600A，短路电流2500A

♦IGBT动态参数测试系统产品简述
ST-DPX 系列产品是主要针对半导体功率器件的动态参数测试而开发设计。通过DUT适配器的转换，可测试各类封装外观的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs等功率器件，包括器件、模块、DBC衬板以及晶圆。产品功能模块化设计，根据用户需求匹配功能单元。测试功能单元有DPT（双脉冲测试 Double Pulse Testing，以下简称DPT。包含开通特性、关断特性、反向恢复特性）栅电荷、短路、雪崩、结电容、栅电阻、反偏安全工作区等。测试方案*符合IEC60747-9标准。

产品功能及输出功率进行了模块化设计，满足用户潜在的后期需求，测试电压电流可扩展至10KV/10KA，变温测试支持常温到200℃，支持生产线批量化全自动测试。

♦产品特点

 测试系统电压以1500V为一个模块，电流以2000A为一个模块，可扩展至10KA/10KV

 内置7颗标准电感负载可选用, 另有外接负载接口,可实现不同电感和电阻负载测试需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)

 另有程控式电感箱可供选择

 针对不同结构的封装外观，通过更换 DUT适配器即可

 可进行室温到200℃的变温测试,也可实现子单元测试功能

 测试软件具有实验模式和生产模式，测试数据可存储为Excel文件

 门极电阻可任意调整, 系统内部寄生电感为小至50nH

 系统测试性能稳定,适合大规模生产测试应用（24hr 工作）

♦参数指标

关键词：标准功能模块

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