SurfaceSeer 飞行时间二次离子质谱仪

SurfaceSeer 飞行时间二次离子质谱仪 是Kore公司集多年研发经验生产出*的仪器，*次将材料表面分析技术引入到可负担得起的日常常规分析范围中。可在短的分析时间内生成化学图像，突破常规实验室仪器的极限! SurfaceSeer分析仪采用功能强大的二次离子质谱仪SIMS技术，结构紧凑，仅需一个标准电源SurfaceSeer 飞行时间二次离子质谱仪，可放置于任何场所使用。SurfaceSeer应用广泛，是一台高性价比的实验室型材料表面分析仪器。SurfaceSeer相对较低的维护成本和较高的样品分析速度，保证其单个样品分析成本明显低于商业实验室的SIMS。SurfaceSeer是研究人员负担得起的、具有表面成像功能 (可选深度剖析) 的仪器。 TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪 二次离子质谱仪 (SIMS) 是材料表面分析重要的技术之一，SIMS可以揭示表面及近表面原子层的化学组成。所获取的信息远超过简单的元素分析，可以识别有机组分的分子结构。 TOF-SIMS 的关键功能是原位无损分析表面区域 (静态SIMS)。TOF-SIMS使用扫描脉冲聚焦探头束（成像SIMS）建立无损表面的化学成像。使用其它离子束逐步刻蚀表面，对表面作深度剖析（动态SIMS）。只需极少的样品前处理，极短的时间内就可获得高灵敏度的分析结果 。