PHI4700俄歇电子能谱仪 X光电子能谱仪

PHI4700俄歇电子能谱仪 俄歇电子能谱是透过使用电子束击打在固体样品上时，去分析被激发出的俄歇电子动能，以获取有关样品元素组成的信息。PHI4700薄膜分析仪，使用了世界进行各种样品的俄歇表面分析和深度分析。再配上了PHI 公司在业界取得非常成功的SmartSoft软件，让操作更加简化。造就PHI 4700 成为世界上*台高自动化的俄歇电子能谱薄膜分析仪。

PHI4700俄歇电子能谱仪 仪器特点： 1、拥有的灵敏度与分析效率 2、强大的自动分析功能 3、配合SmartSoft-AES实现了简易的操作模式

高灵敏度，高通量能量分析器与简易自动化的俄歇深度分析，使的仪器成本效益可以轻易获得PHI4700薄膜分析仪透过在SEM中快速的微米分析区域定位，可能快速的执行并获得 包括深度分析的分析结果。右例为手机镀金电极的正常品与另一使用多年并且已变色的旧品的分析比较。就结果所见，变色的手机屏幕上，有着不预期的Ni（镍）讯号扩散到金镀层，从而就知道了屏幕变色的原因。 

高通量分析仪配合上高灵敏度测量的自动化分析 高灵敏度分析使PHI  4700薄膜分析仪分析测量所使用的时间减少了。此外，由于仪器配备了自动测量的功能，让 PHI 4700成为一个媲美高级的生产设备，可以在很短的时间测量多个样品。 自动测量的设定只需要简单的在样品图上加上需要的分析区域，排列成队列后就由软件自动进行。