15J、15JE测量显微镜
用途: 结构简单、操作方便和经久耐用的测量显微镜,适用范围广泛,主要用途如下:
1.坐标中测定长度,例如:孔距、基面距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、内、外圆直径等。
2.转动度盘测定角度,例如:样板、量规钻孔模板及几何形状复杂的零件进行外形和角度测量。
3.用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度、鉴定冶金工业的矿石标本、检验纤维及印刷、照相和电子行业的细微作业等。
技术参数
物镜 | 放大倍率/数值孔径 | 2.5×/0.08 | 10×/0.25 |
焦距 | 43.4mm | 17.13mm | |
目镜WBF (带坐标线) | 放大倍率 | 10× | |
焦距 | 25mm | ||
工作距离 | 58.84mm | 7.81mm | |
视场直径 | 5.6mm | 1.4mm | |
总放大倍率 | 25× | 100× | |
测量工作台 | 测量范围X-Y:50x13mm 刻度盘分度0o-360o 分度值6′ | ||
分辨率 | 15J | 0.01mm (测微鼓读数) | |
15JE | 0.001mm (数显读数) | ||
测量精度 | 仪器示值误差±(5+L/15)μm L-被测件长度mm (包括测量误差和仪器系统误差) | ||
仪器尺寸 | 测量工作台直径120mm 玻璃工作台直径80mm 测量台面到物镜距离80mm | ||
包装规格 | 重量10Kg 体积325x262x220mm |