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90Plus PALS 高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪
与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍，可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。
90Plus PALS高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪是目前能够精确测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍！90Plus PALS 高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪
PALS技术（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新的Zeta电位测量技术，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员*以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析，这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的灵敏度进行测量，ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。90Plus PALS 高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪
简单的计算即可说明硬件PALS技术的优越性：
Zeta电位测量特点：
1. 真正的PALS技术：
随着在20世纪九十年代对ＰＡＬＳ技术研究的成熟，出现了两种商品化的仪器。一种是使用PALS算法的Zeta电位仪，另一种就是使用真正PALS技术进行测量的ZetaPALS。
通常情况下，仅使用PALS算法的Zeta电位仪需要对样品进行两次单独的测量从而补偿由于使用毛细管而带来的电渗运动的影响。这种方法仅仅是对传统频移技术数据的修正，而并不能真正有效的提高仪器的分辨率，因此也无法解决困扰Zeta电位测量的低电泳迁移率体系的测量问题。但是，ZetaPALS是从测量方法入手，从信号提取方法、信号整形技术以及分析处理等各个阶段都是使用的PALS技术，因此，这与其它任何仅简单使用PALS算法的仪器不同，ZetaPALS是真正意义上使用PALS技术的仪器。
2. *样品槽设计：
布鲁克海文公司开发的新型样品槽为开放式，从根本上杜绝了电渗现象，从而充分保证了测试精度，使用户省去了校准、标定、及费心保养等麻烦，亦无交叉污染之忧。
3. 电极设计：
鉴于使用传统电泳方法测量Zeta电位存在的种种缺陷，布鲁克海文公司开发设计了一代的插入式电极。该电极使用纯金或纯钯作为电极材料，因此电极寿命极长；同时，由于也采用了开放式的设计，电极的清洗变得简单易行；更重要的是，对于被测体系驱动能力关键的是所加的电场强度（而不是电压），由于这种电极的极板间距离相对更小，这样就使得施加低电压得到高场强成为可能，从而减小了测量过程中使用高电压所产生的电流对胶体样品的污染，尤其是对于那些离子浓度较高的体系来说尤为重要。
4. 内置两重精密的温度控制单元，样品温度控制范围: 5°C to 90°C（选项：-2°C to 102°C）。
5. 高线性范围的PMT检测器和高灵敏的APD检测器根据客户实际实验要求任选，PMT检测器灵敏度较低，但是线性范围更宽；APD检测器灵敏度较高，但是线性范围较窄。因此，对于不同应用的用户来说，实际上应该有不同的选择。
纳米粒度测量部分使用动态光散射技术（Dynamic Light Sacttering, DLS), 即由于颗粒在悬浮液中的布朗运动，使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器（digital correlator）
技术处理脉冲信号，将光强的波动转化为相关函数。自相关函数包含了悬浮颗粒或者溶液中高分子的扩散速度信息，进而利用Stokes－Einstein方程计算得出粒子的扩散系数和粒子粒径Rh及其分布：
纳米粒度测量特点：
1. 强大的TurboCorr数字相关器：*的相关器，拥有522个物理通道，相当于超过1010个线性通道，25nS-1310S动态采样时间及延迟时间分配，支持互相关测量，支持多路信号输入（详见相关资料）。
2. 采用35mW大功率固体激光器，在保证稳定性的同时有效地提高了信噪比，更加有利于对极小粒度及极稀体系的测量(如图1)。由于光束的良好聚焦，不会对体被测体系造成热运动影响，同时保证了更小的散射体积。
3. 高线性范围的PMT检测器和高灵敏的APD检测器根据客户实际实验要求选则。APD以其高灵敏度适用于纳米颗粒的测量；PMT检测器以其良好的线性范围适合测量分布较宽的样品体系。
4. 样品池温度控制范围: -5 to 110℃±0.1℃。
