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90Plus Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪
纳米粒度测量部分使用动态光散射技术（Dynamic Light Sacttering, DLS）, 即由于颗粒在悬浮液中的布朗运动，使得光强随时间产生脉动。
工作原理90Plus Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪
纳米粒度测量部分使用动态光散射技术（Dynamic Light Sacttering, DLS), 即由于颗粒在悬浮液中的布朗运动，使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器（digital correlator）
技术处理脉冲信号，将光强的波动转化为相关函数。自相关函数包含了悬浮颗粒或者溶液中高分子的扩散速度信息，进而利用Stokes－Einstein方程计算得出粒子的扩散系数和粒子粒径Rh及其分布：
ZetaPlus电位测量采用电泳光散射原理：带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移（多普勒频移）,采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。90Plus Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪
技术优势-纳米粒度测量部分：
1. 强大的TurboCorr数字相关器：*进的相关器，拥有522个物理通道，相当于超过1010个线性通道，25nS-1310S动态采样时间及延迟时间分配，支持互相关测量，支持多路信号输入（详见相关资料）。
2. 采用35mW大功率固体激光器，在保证稳定性的同时有效地提高了信噪比，更加有利于对极小粒度及极稀体系的测量(如图1)。由于光束的良好聚焦，不会对体被测体系造成热运动影响，同时保证了更小的散射体积。
3. 高线性范围的PMT检测器和高灵敏的APD检测器根据客户实际实验要求选则。APD以其高灵敏度适用于纳米颗粒的测量；PMT检测器以其良好的线性范围适合测量分布较宽的样品体系。
4. 样品池温度控制范围: -5 to 110°C± 0.1°C
技术优势-Zeta电位测量部分：
1. *样品槽设计：
传统样品槽电极设计，使样品槽内不可避免产生反电泳运动的电渗现象，所以测量必须在电渗运动为零的稳定层上进行。寻找稳定层增加了仪器设计的复杂性，用户校准也很麻烦，精度也难以保证。布鲁克海文公司开发的新型样品槽为开放式，从根本上杜绝了电渗现象。测试精度有了充分保证，用户也省去了校准、标定、及费心保养等麻烦，亦无交叉污染之忧。
2. 电极设计：
鉴于使用传统毛细管电泳方法测量Zeta电位存在的种种缺陷，布鲁克海文公司开发设计了一代的插入式电极。该电极使用纯金或纯钯做为电极材料，因此电极寿命极长；同时，由于采用了开放式的设计，电极的清洗变得简单易行；更重要的是，对于被测体系驱动能力关键的是所加的电场强度（而不是电压），由于这种电极的极板间距离相对更小，这样就使得施加低电压得到高场强成为可能，从而减小了测量过程中使用高电压所产生的电流对胶体样品的污染，
3. 内置两重精密的温度控制单元，样品温度控制范围: 5° C to 90° C（选项：-2°C to 102°C）。
4. 高线性范围的PMT检测器和高灵敏的APD检测器根据客户实际实验要求任选。
