原子力显微镜工作站AFM5000II／RealTune® II
AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面，标准配备参数自动设置功能(RealTune® II)，即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时，也能快速获得准确的测量数据。
- 图标说明
- * RealTune是日立*公司在日本的注册商标
特点
规格
特点
1. RealTune® II 的参数自动设置功能
- *的参数自动设置功能！
RealTune® II可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数，可以根据样品表面的形貌、扫描范围、扫描速度以及使用的悬臂的状况，高效率、高精度地调整成合适的测量条件。 - 通过新增加的参数自动设置功能（RealTune® II），可实现一键（One Click）测量。
原来需要专业操作才能完成的测量，现在即便是新手也可以轻松胜任。 - 也可用于高难度样品。
【实例1】纤维状的碳纳米管结构体（壁虎胶带）
【样品提供：日东电工股份公司】
以往的方法这些样品需要对参数进行精细的调整，操作难度很高，并且柔软的纤维易变形产生皱痕。
新处理方法
自动设置成合适的条件，可在复杂的纤维结构不变形的情况下进行精准测量。
【实例2】用于有机薄膜晶体管的多结晶薄膜（并五苯多结晶薄膜）
【样品提供：神户大学北村研究室】
以往的方法这种样品，表面容易损坏，易产生皱痕、台阶的轮廓也不明显。
新处理方法
自动设置成合适的条件，稳定地测量分子级别上的台阶结构。
2. 全新的图标用户界面（Graphical Use Interface）
简单的菜单设置
- 明了易懂的图标、严格筛选的图片信息，无论是初学者还是有经验的操作员，都能够轻松掌控！
- 可通过选项卡在测量及分析之间相互切换，画面简洁明了。
3. 3D覆盖功能
能够将样品形貌及物理特性叠加显示，并能构画出3D画面，可以通过视觉感受表示样品的物理特性。
4. 凹凸分析、剖面轮廓分析功能
配备凹凸分析、剖面轮廓分析等多样的分析功能。
5. 小型化设计
轻便的小型化外形，适合各种场地摆放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg
规格
| OS | Windows®7 |
|---|---|
| 连接机型 | AFM5100N、AFM5300E |
| RealTuneII | 悬臂振幅、接触力、扫描速度、自动设置反馈增益 (Auto、Fast、Soft、Rough、Flat、Point) |
| 操作画面 | 导航功能、多图显示功能（测量/分析）、3D叠加功能、扫描范围/测量记录显示功能、数据分析批量处理功能、探针评估功能 |
| X,Y,Z扫描电压 | XY（±200V/18bit） Z（±200V/26bit） |
| 多画面测量 | 4画面（大2048×2048） 2画面（大4096×4096） |
| 长方形扫描 | 1:1, 2:1, 4:1, 8:1, 16:1, 32:1, 64:1, 128:1, 256:1, 512:1, 1024:1 |
| 分析软件 | 3D显示功能、凹凸分析、剖面分析、平均剖面分析 |
| 尺寸、重量 | 220 mm（W）×500 mm（D）×385 mm（H）、约15 kg |
| 电源 | AC 100V～240V±10%、单相 |
应用数据
介绍扫描探针显微镜的应用数据。
说明
解说扫描式隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM)等的原理和各种状态原理。
历史和SPM发展
描述我们的扫描探针显微镜和我们的设备的历史和发展。(Global site)
