Keithley2600A系列数字源表(图1)

在同一空间内有两条*隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源，在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内，测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

使用 2600B 简化 FET 测试

特点

  • 在同一空间内可有 2 条通道



缩略图

测试脚本处理器 (TSP®) 技术可在 SMU 仪器内嵌入和执行完整测试程序。

使用 2600B 系列进行二极管生产测试

特点

  • 消除与 PC 之间耗时的总线通信

  • 高级数据处理和流量控制

  • 通用型探头/处理程序控制

系统性能，无主机

缩略图

TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道，支持高速、SMU-per-pin 并行测试（而不使用主机）。 <500 ns 时所有通道同时独立受控。

使用 Keithley 2600B 系列仪器增加多引脚设备的生产吞吐量

特点

  • 支持 <500 ns 通道间同步

  • 可达 32 条或 64 条独立 SMU 通道


适合生产的低电流性能

缩略图

2635B 和 2636B SMU 在 100 pA 范围内提供 0.1 fA、10-16 分辨率.