F3 膜厚测量仪F3-仪表网

　　全光科技（北京）有限公司位于北京市中关村科技园区昌平园，多年来一直致力于光学技术的应用和推广，产品涉及光纤通信，光纤传感，半导体，，科研和教育行业，客户遍及国内各大高校，科研院所以及高科技企业。

　　全光科技始终坚信“质量、服务、诚信、创新才是发展的硬道理”，坚持“科技创新、质量优先”的管理信念，“自信源于专业，拼搏成就梦想”是我们的经营理念，我们一直努力为客户提供质优、价廉、专业、可靠的光学测量仪器及服务。

　　全光科技目前的合作伙伴主要有美国OEwaves、Luna、General Photonics、Micron Optics（MOI）、LaseGen、Ophir-Photon、Bristol、Filmetrics，加拿大WL Photonics、CodeSScientific、EXFO，德国Novoptel，Toptica，HighFinesse，英国PE fiberoptics，法国Yenista，韩国Sairon Tech，日本Anritsu、Santec和Yokogawa等公司。

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产品介绍F3是我们、的光谱反射仪，搭配厚度与折射率的软件模组可以用来测量薄膜的特性，具备了这些软件模组的F3，不但包含我们的F20的所有能力，而且还具备了即时波长校准与寿命高达4万小时的光源，这意味着减少了客户长期维护的成本

膜厚测量仪F3 产品详情

产品介绍

F3是我们、的光谱反射仪，搭配厚度与折射率的软件模组可以用来测量薄膜的特性，具备了这些软件模组的F3，不但包含我们的F20的所有能力，而且还具备了即时波长校准与寿命高达4万小时的光源，这意味着减少了客户长期维护的成本。

F3不到一秒钟即可测量厚度与折射率，如同我们所有的厚度测量仪，通过USB端口安装到Windows系统电脑平台上，几分钟内即可完成设定，而且F3系统仅需USB连接而不需另外供电。F3系列膜厚仪的选择同样取决于薄膜厚度范围的测量。

关键词：测量仪

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