F54 微区域自动膜厚测量F54-仪表网

　　全光科技（北京）有限公司位于北京市中关村科技园区昌平园，多年来一直致力于光学技术的应用和推广，产品涉及光纤通信，光纤传感，半导体，，科研和教育行业，客户遍及国内各大高校，科研院所以及高科技企业。

　　全光科技始终坚信“质量、服务、诚信、创新才是发展的硬道理”，坚持“科技创新、质量优先”的管理信念，“自信源于专业，拼搏成就梦想”是我们的经营理念，我们一直努力为客户提供质优、价廉、专业、可靠的光学测量仪器及服务。

　　全光科技目前的合作伙伴主要有美国OEwaves、Luna、General Photonics、Micron Optics（MOI）、LaseGen、Ophir-Photon、Bristol、Filmetrics，加拿大WL Photonics、CodeSScientific、EXFO，德国Novoptel，Toptica，HighFinesse，英国PE fiberoptics，法国Yenista，韩国Sairon Tech，日本Anritsu、Santec和Yokogawa等公司。

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产品介绍FilmetricsF54系列产品集成显微成像装置，可以自动测量微观区域的薄膜厚度分布，光斑尺寸可做到1um

微区域自动膜厚测量F54 产品详情

产品介绍

Filmetrics F54 系列产品集成显微成像装置，可以自动测量微观区域的薄膜厚度分布，光斑尺寸可做到1um。F54采用电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点，并以每秒测绘两个点的速度快速完成薄膜厚度的测绘，样品直径可达450毫米，F54内建数十种同心圆，矩形或线性图案模式，也可自行建立无数量限制的测量点。

F54 自动薄膜测绘只需连接设备到运行Windows™系统计算机的USB端口, 可在几分钟内轻松完成设置，不同的型号主要是由厚度和波长范围作为区别，通常较薄的薄膜需要用较短的波长来测量(如F54-UV) ，而较长的波长用来测量更厚，更粗糙或更不透明的薄膜。

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