F40 微区域膜厚测量仪F40-仪表网

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　　全光科技始终坚信“质量、服务、诚信、创新才是发展的硬道理”，坚持“科技创新、质量优先”的管理信念，“自信源于专业，拼搏成就梦想”是我们的经营理念，我们一直努力为客户提供质优、价廉、专业、可靠的光学测量仪器及服务。

　　全光科技目前的合作伙伴主要有美国OEwaves、Luna、General Photonics、Micron Optics（MOI）、LaseGen、Ophir-Photon、Bristol、Filmetrics，加拿大WL Photonics、CodeSScientific、EXFO，德国Novoptel，Toptica，HighFinesse，英国PE fiberoptics，法国Yenista，韩国Sairon Tech，日本Anritsu、Santec和Yokogawa等公司。

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产品介绍F40系列膜厚仪用于测量小到1微米区域的薄膜厚度，它能简单地固定在大多数显微镜的C型转接器上，这样的转接器是显微镜行业的标准配件

微区域膜厚测量仪F40 产品详情

产品介绍

F40系列膜厚仪用于测量小到 1 微米区域的薄膜厚度，它能简单地固定在大多数显微镜的C型转接器上，这样的转接器是显微镜行业的标准配件。F40 集成彩色摄像机，能够对测量点进行准确监控，在 1 秒钟之内就能测定厚度和折射率。像我们所有的台式仪器一样，F40 需要连接到您装有 Windows 系统计算机的 USB 端口上，并可在数分钟内完成设定。
对于一些拥有NanoSpec™ 180/210系统的客户，经过多年的使用，设备已经老化，F40-NSR则可以利用其中的机械装置进行搭配，组成一套全新的膜厚测量系统，大大节省了客户的费用。

关键词：显微镜标准

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