简介︰
的A.S & Co产品系列SpectraVision 4，软件模块包含多种硬件控制，如PMT，光谱仪，成像摄像头，光源灯；可以完成标准设置的测试分析，也可以进行客户自定义的独立研究分析。SpectraVision 4进行反射率测量是通过选择PMT或者CCD探测器完成的，可根据客户需要进行灵活配置。探测器直接耦合在光路中，不需要光纤连接，能够达到的信号接收品质。可选制冷循环系统，可以极大提高信噪比（S/N）。
产品概述和特点
SpectraVision 4成像模块是一种新开发的工具，能够帮助镜质体的测量。基于现代成像系统的12-16bit动态范围视频摄像头探测器，得到原始的成像图片。同时能够记录下测量位置的信息。可应用到特殊领域，如焦化厂煤质分析。快速给出煤品质和颗粒度等计算信息，提供的煤阶配比。成像显示样品形貌和测量位置，同时给出直方图信息。基于电动控制载物台的系统，可以自动扫描样品，自动分析测试结果，输出测试报告。
SpectraVision 4可以在一套软件中根据用户的实际需要，提供多种独立和功能强大的应用模块。系统可以进行标准化的镜质体反射率测量，同时也可进行精密、复杂的样品探测，完成反射，透射，荧光光谱分析。
SpectraVision 4地质和有机岩相学应用主要特点：
► 镜质体反射率
► 多种有机质成分分布
► 偏振模式
► 显微荧光光谱
► 成熟度研究
► 色域分析
► 镜质体反射率和荧光光谱相关研究
► 自动成像和工业、岩相学图像测量
► 波长精度定标和信号强度动态范围检测
► 自动感测和荧光标定
SpectraVision 4系统特点
► 标准546nm波长反射率测量；
► 计算直方图符合DIN/ISO 标准；
► 测量结果符合GB/T12937-2008；GB/T 8899-2013；GB/T 15590-2008标准所需测量要求。
► 统计参数如平均值，标准偏差；
► 多组分分布测量。
根据显微镜能力，SpectraVision 4具有的功能
► 明场、暗场透射模式；
► 明场、暗场反射模式；
► 偏振模式；
► 荧光模式；
► 三维模拟成像。
图1显微镜光照下图形
图2通过circular-difference-interference-contrast（循环微分干涉对比）技术，使得三维微观结构可视化
技术参数
光谱范围 | 220-2100nm |
荧光激发 | 360-546nm |
光源 | 高效能氘卤复合光源或氙灯 |
采样面积 | <1um2 |
光谱分辨率 | 0.8nm |
探测器 | TE制冷CCD+InGaAs阵列探测器 |
像素尺寸 | 24umx24um |
积分时间 | 0-60s |
成像 | 500万像素 |
操作系统 | Windows7，Windows8，Windows10 |
