JKZC-YDZK03AN压电阻抗综合测试系统
关键词：压电系数，阻抗，显微镜，高低温
JKZC-YDZK03N压电阻抗综合测试系统是一款多用途的综合测试系统，即可用于纵向压电D33测试，竖向D15,横向D31等性能测试，配置了高低温冷热台，进行变温测试，配置显微镜进行微观观测，也可以用于用于用于铁电晶体、压电陶瓷、压电晶体、超声波换能器等器件的阻抗分析与测试，是对压电器件和设备进行频率扫描和阻抗测量分析的*解决方案，可以快捷方便地测试压电器件的各项参数特性,正反谐振阻抗及压电材料的电容等相关系数，是研究压电材料和阻抗分析的综合设备，是科研的重要辅助设备。
一、产品应用范围：
1.压电材料器件科学研究
2.压电材料的用于评定压电陶瓷片性能优劣
3.压电材料阻抗分析
4.其他介质材料： 塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶单元：介电常数、弹性常数等C-V特性
5. 导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
半导体元件：LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性； 晶体管或集成电路的寄生参数分析
二、主要技术参数：
频率：10HZ-30MHZ
测试电平：AC: AC电压:5mV - 2Vrms ,分辨率：1mV, DC：±40V，分辨率：1mV
测试参数：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc
显微镜：630万像素，偏光观察模式
薄膜平台：30*30MM样品台,探针连接
×1挡：10到2000pC/N，20 至4000pC/N，可以升级到10000PC/N.
×0.1挡： 1到200pC/N，2 至400pC/N。
可以配套PZT-JH10/4/8/12型压电极化装置使用
可以配套ZJ-D33-YP15压电压片机使用
误差：×1挡：±2%±1个数字，当d33在100到4000pC/N；
计量标定标准样尺寸：18mm*0.8mm，老化时间：2-3年（评判压电测试仪准确性能的重要依据之一）
提供压电薄膜标准片：20*20MM
电压保护：放电保护功能
±5%±1个数字，当d33在10到200pC/N；
×0.1挡：±2%±1个数字，(当d33在10到200pC/N)
±5%±1个数字，当d33在10到20pC/N。
分辨率： ×1挡：1 pC/N；×0.1挡：0.1 pC/N。
尺寸：施力装置：Φ110×140mm；仪器本体：240×200×80mm。
