MIR-xxx 离子迁移测试系统

上海炜绫测试技术有限公司成立于2017年，是一家集研发、制造、营销于一体的测试技术企业。公司坐落于地理位置*、自然环境优美的上海市松江区，立足长三角，服务全国。“炜绫”取自“Reliable Link”，意指“可靠联接”。公司致力于各种印制线路板，IC封装基板以及半导体产品的可靠性测试仪器以及系统的研究开发与销售，为行业用户提供优质的可靠性测试解决方案。坚持以技术创新来不断提升公司的核心竞争力。

公司产品拥有自主的知识产权，依据国际和国家行业标准开发。目前公司产品包括互联可靠性测试产品，绝缘可靠性测试产品，制程测试设备三大系列。

导通可靠性测试产品系列包括：

         MRT系列电阻测试系统（在线电阻测试系统），

         CST系列循环互联应力测试系统（互联可靠性测试系统），

         CLT系列耐电流测试仪（HDI盲孔互联可靠性测试），

         CLPT系列耐电流参数测试仪（HDI盲孔互联可靠性测试），

         HCPT系列耐电流参数测试仪（HDI盲孔互联可靠性测试），

         CHCT系列耐电流测试仪（HDI盲孔恒温耐电流测试）。

绝缘可靠性测试产品系列包括：

         MIR系列绝缘电阻测试系统（CAF测试系统，CAF离子迁移测试系统）。

         HP系列多路耐压测试系统（Hipot耐压测试系统）

“实现顾客满意”是炜绫测试始终坚持的准则。我们努力建设多层次的市场推广模式，网络、直销、代理三位一体，友好地贴近客户、倾听客户、为客户创造价值，努力构建与客户合作、沟通和交流的快捷通道，为客户提供满意的解决方案，并降低预算，节约成本。