详情介绍：
特殊长度
- 可以从0 nm开始进行低（残留）延迟测量
- 可以与光轴检测同时进行延迟（Re。）的高速测量（
可以在0.1秒或更短的时间内完成处理，这相当于世界上*快的速度）。 - 由于没有驱动单元，因此可实现高重复性
- 易于测量，只需设置很少的测量项目
- 除了550 nm的测量波长外，我们还有各种波长的产品系列。
- 可以进行Rth测量和全向测量
（需要可选的自动旋转倾斜夹具） - 通过与拉伸测试仪结合使用，可以与薄膜的偏振特性同时评估光弹性
（该系统是定制的）。
测量项目
- 参考（ρ[°]，Re [nm]）
- 主轴方位角（θ°）
- 椭圆率（ε）/方位角（γ）
- 三维折射率（NxNyNz）
测量目标
- 相差膜，偏光膜，椭圆膜，视角改善膜，各种功能膜
- 透明和各向异性的物质，例如树脂和玻璃（玻璃中的应变，变形等）
- 产品信息
- 原则
- 规格
- 测量例
相关信息
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