NanoFlip纳米压痕仪可在真空和常压条件下对硬度、模量、屈服强度、刚度和其他纳米力学测试进行高精确度的测量。在扫描电子显微镜（SEM）和聚焦离子束（FIB）系统中，NanoFlip在测试（例如柱压缩）方面表现优异，可以将SEM图像与机械测试数据同步。NanoFlip测量迅速，这对于惰性环境（例如手套箱）中测试异质材料很关键。系统所配置的可选套件，例如InForce50电磁驱动器，可以提供定量结果，从而为材料研究提供有价值的解决方案。
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产品描述
NanoFlip提供高精度XYZ位移，可定位样品进行测试，还提供翻转机制，可定位样品进行成像。InView软件附带一套测试方法，涵盖一系列测试协议，并允许用户创建自己的新颖测试方法。InForce50驱动器在真空和常压条件下表现同样出色。InView软件可以记录SEM或其他显微镜图像，并与机械测试数据进行同步。创新的FIB-to-Test技术允许样品倾斜90°，无需移除样品即可实现从FIB到压痕测试的无缝过渡。
主要功能
InForce 50驱动器，用于电容位移测量，并配有电磁启动的可互换探头
InQuest高速控制器电子设备，具有100kHz数据采集速率和20μs时间常数
用于样本定位的XYZ移动系统
SEM视频捕获，可以将SEM图像和测试数据进行同步
的软件集成压头校准系统，可实现快速，准确的压头校准
与Windows®10兼容的InView控制和数据查看软件以及协助用户设计实验的方法开发功能
主要应用
硬度和模量测量（Oliver-Pharr）
连续刚度测量
高速材料性质分布图
ISO 14577硬度测试
聚合物的纳米动态力学分析（DMA）
定量刮擦和磨损测试
工业应用
大学、研究实验室和研究所
支柱和微球制造
MEMS（微机电系统）
材料制造（结构压缩/拉伸/断裂测试）
电池和元件制造
