芯片推拉力测试机具有测试动作迅速、准确、适用面广的特点，被广泛应用于半导体封装、光通讯器材件封装、LED封装、COB/COG工艺测试、研究所材料力学研究、材料可靠性测试等应用领域。能满足包含有：金属、铜线、合金线、铝线、铝带等拉力测试、金球、铜球、锡球、晶圆、芯片、贴片元件等推力测试、锡球、BumpPin等拉拔测试等等具体应用需求，功能可扩张性强、操控便捷、测试高效准确。 拉力剪切力测试仪精密推拉力试验机
产品特点：
1.采用精密动态传感采集技术，确保测试数据的精度的真实性。拉力剪切力测试仪精密推拉力试验机
2.三轴运动平台，双摇杆控制机器操作简单快捷。
3.采用3D立体传感技术，自动测试功能保证测试精度及数据准确性。
4.只需手动更换相对应的测试头即可实现推力及拉力测试功能。
产品参数：
设备型号：LB-8000D
测试精度：±0.25%
测试范围：推力0-5000克（可根据客户，配置不同传感器）
工作方式：推针及拉针180度垂直与测试产品接触，确保数据的准确性
外型尺寸：长：500mm宽：550mm高：440mm
传感器更换方式：手动
操作系统：控制系统+Windows操作界面
平台夹具：机台可共用各种夹具，夹具可360度旋转
X轴行程：75mm
X轴分辨率：±0.002mm
Y轴行程：75mm
Y轴分辨率：±0.002mm
Z轴行程：75mm
乙轴分辨率：±0.001mm
重量：35kg
功率：300W(MAX)
电源：220V±5%
