(1) 智能化校准：仪器具有多种校正模式(数学模型)方法，在定量分析中可自动应用， 以取得*佳的分析结果；仪器具有ICAL（智能标准化校准）功能；同时在分析间歇中会自动监测仪器温度的变化，并校正因此带来的信号的漂移。
(2) 全面快速的分析范围：一次同时分析Mg~Th的41个元素只需2s，做各种铝合金、 镁合金的材料分选分析只需10s。
(3) 简洁可靠的仪器结构：在空气中即可分析Al、Mg、Si、P等轻元素，不需要氦气 吹扫或抽真空等复杂装置.
(4) *佳的激发效果：采用复合滤光片(多金属复合材料)设计, 简化分析操作, 减少了X 光的损失，形成对于特定元素的*佳信号接受，同时保证对元素周期表中Mg–Th的所有元素均有*佳的激发效果。
(5) 可靠保护操作人员：仪器打开快门前，自动检测是否有X射线泄漏，如未检测到样品，快门将于200毫秒的时间内自动关闭，关闭快门的同时仪器自动切断X射线，是真正意义上的安全的快速无损现场检测设备。
(6) 更逼真的未知样检测：仪器可选择配置FP快速定性, 半定量(定量)程序。可对任 何未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比，FP更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数千种标准样品，实测结果并予以固化。
(7) 分析效率高：复合滤光片显著减少更换滤波片造成的分析时间的浪费（缩短5 倍时间），减少操作人员接受辐照的时间，有助于减少X射线对操作人员的伤害, 同时大大提高分析多种元素的效率。
(8) 的检测器，精度高并可检低含量：第四代电制冷硅漂移检测器（Peltier Sillicon Draft Detector，简写：PSDD），计数率高达250,000cps，可有效防止计数溢出造成的漏计数。Mn-Ka谱线线分辨率好于170eV，信号灵敏度是其他手持式仪器检测器的10倍。
(7) 分析效率高：复合滤光片显著减少更换滤波片造成的分析时间的浪费（缩短5 倍时间），减少操作人员接受辐照的时间，有助于减少X射线对操作人员的伤害, 同时大大提高分析多种元素的效率。
(8) 的检测器，精度高并可检低含量：第四代电制冷硅漂移检测器（Peltier Sillicon Draft Detector，简写：PSDD），计数率高达250,000cps，可有效防止计数溢出造成的漏计数。Mn-Ka谱线线分辨率好于170eV，信号灵敏度是其他手持式仪器检测器的10倍。
