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  • 东谱科技飞行时间法迁移率测量仪FlyTOF

FlyTOF- 东谱科技飞行时间法迁移率测量仪FlyTOF

参考价订货量

1

≥1台

具体成交价以合同协议为准
  • 型号FlyTOF-
  • 品牌
  • 所在地广州市
  • 更新时间2025-03-11
  • 厂商性质生产厂家
  • 所在地区广州市
  • 实名认证已认证
  • 产品数量42
  • 人气值633
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东谱科技于2017年由专业研究人员和行业工程师联合发起注册成立,总部位于广州,是专业的光电谱学类仪器及技术方案服务商,业务覆盖光电谱学设备研制、生产、销售、技术服务等,自主研发的系列谱学检测产品已广泛应用于材料科学、生命科学、食品科学、环境科学、石油化工、地质学等领域。 东谱科技核心成员均获得光机电类硕博士学位,具有5-10年国际实验室及企业研发经验,拥有出色的光电子前沿科学研究及光机电产品开发的实力。公司长期聚焦光电谱学类产品与技术的研发,提供专业的光电谱学“产品+技术+服务”的系统解决方案,致力于成为行业LX的光电谱学类仪器及技术方案服务商,推动行业创新发展。  

 

东谱科技的理念

 服务理念:以终端客户为中心

以满足一线终端客户的需求作为首要目标;力求为终端客户提供专业的服务和优秀的产品。

技术理念:自底向上、全链条

致力于从底层开发创新性的产品,具备从电子、光学、机械零件等元器件层级设计和开发产品的能力;掌握所涉足产品的底层原理、系统设计、制备及应用等全方面的技术支撑能力。

产品理念:准确、高效、实时

为客户提供精准的测试结果,同时提供智能的测试方案,协助客户以最短的时间高效地完成测试,测试过程实时呈现给客户;在系统级产品中,努力实现“一键开机、一次装载、全局测量、实时交互”。


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产地国产 加工定制
载流子迁移率、电子迁移率、空穴迁移率、渡越时间、飞行时间、TOF、载流子寿命、迁移率寿命积、瞬态光电流、水平载流子、横向TOF、横向载流子、二维载流子成像mapping
东谱科技飞行时间法迁移率测量仪FlyTOF 产品详情

产品关键词:载流子迁移率测量系统/测试、电子迁移率测试、空穴迁移率测试、电子迁移率检测、半导体测试仪、半导体参数分析仪、半导体器件参数测试仪、渡越时间测量、飞行时间测量仪、少数载流子寿命测试仪、载流子寿命测试仪器、迁移率寿命积测量、少数载流子测试、水平载流子测试仪、横向载流子测试、载流子浓度测量仪、少子寿命测试仪


Key words: Carrier mobility Measurement system/Test, electron mobility test, Hole mobility Test, electron mobility test, semiconductor tester, semiconductor parameter analyzer, semiconductor device parameter tester, transit time measurement, time of Flight measurement, minority carrier life tester, carrier life testing instrument, Mobility lifetime product measurement, minority carrier test, Level Carrier tester, transverse carrier tester, carrier concentration tester, minority lifetime tester


于2012年为行业提供搭建式系统,并于2019年全新推出的业内新款自动化、集成化的飞行时间法迁移率测量商业化设备

产品简介


FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight,TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性,广泛适用于各类半导体材料,如硅基半导体、第二代半导体、第三代宽带隙半导体、有机半导体、钙钛矿半导体、量子点半导体、二维材料半导体、金属-有机框架(MOF)、共价有机框架(COF)等。FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成,配备便捷的上位机控制和数据测量软件,可助力客户进行快速、准确的测量。FlyTOF是东谱科技源头研发产品,是业内新款自动化、集成化的飞行时间法迁移率测试商业化设备。


迁移特性是半导体基础的性质之一,是半导体在电子学和光电子学等领域进行应用的基础。半导体的迁移率定义为单位电场下载流子的平均漂移速度。TOF迁移率测试方法直接由迁移率的定义发展而来。 相比于一些间接的迁移率测试方法,如空间电荷限制电流(SCLC)法等,TOF的方法被认为是接近“真实”迁移率的一种测量方法。通过TOF瞬态光电流信号的分析,可以得到电子迁移率、空穴迁移率等参数;用户还可以利用这些数据,结合材料的物理模型进行分析,得到杂质浓度、缺陷、能带混乱度、电荷跳跃距离等参数。


作为TOF迁移率测试方法商业化应用的先行,东谱科技已携手客户广泛探索了FlyTOF在有机半导体、硅基半导体、钙钛矿半导体、二维材料、共价有机框架等领域的应用。东谱期待与您共同开拓FlyTOF更多的应用领域。

产品特点


□ 载流子迁移率测量值覆盖10^-9~10^6 cm^2/(V.s)

□ 专业的信号调教,电磁兼容噪声小

□ 行业优异的TOF测试功能

□ 软件自动控制,测试快速便捷

□ 快速换样装置,惰性气体氛围测试

□ 可实现宽温度范围的变温测试(选配)

□ 可通过可视化系统看到光斑照射情况

□ 可灵活耦合各种类型的激发光源

产品功能


□ 飞行时间法瞬态光电流测量

□ 半导体材料电子迁移率测量

□ 半导体材料空穴迁移率测量

□ 载流子浓度测量

□ 载流子寿命测量

□ 可选变温测量

□ 可选Lateral-TOF测试功能及附件

□ 可选配TOF二维扫描(mapping)功能及附件


功能说明:

标配TOF:纵向TOF;

Mapping功能:可以对TOF的信号进行二维平面的成像;

Lateral-TOF功能:可以以水平的方式对样品的迁移率进行测试。

产品应用



□ 有机半导体□ 量子点半导体□ 元素半导体(Si、Ge等)□ 金属-有机框架(MOF)□ 二维材料
□ 宽带隙第三代半导体□ 钙钛矿材料□ 化合物半导体(InGaAs等)□ 共价有机框(COF)□ 其它半导体材料

规格型号



规格配置高性能版(E300)标配版(S300)经济版(W300)
TOF标配功能
Mapping模块可选可选×
Lateral-TOF可选可选×

* Lateral-TOF:

□ 包含显微系统、探针系统、针对Lateral-TOF的光路及电子部件系统等,具有非标性质,详情请与销售专员联系。

* 可选配置/部件:

□ 337nm 纳秒气体激光器;

□ 532nm纳秒调Q固体激光器;

□ 355 nm纳秒调Q固体激光器;

□ Nd:YAG激光器 1064 nm、532 nm、355 nm、266 nm;

□ 可调谐 OPO 激光器,波长范围:210-2400 nm。

测试样例






关键词:测量仪
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