奥林巴斯GX53倒置显微镜使用范围非常广，常见于钢铁、汽车、电子及其它制造行业。仅仅将打磨后的金属及截面试样倒置于显微镜镜台上，用户就可对试样进行检验。样本不需要放平，也可以观察较厚、较大、较重样品。
奥林巴斯GX53给出的清晰图像，采用传统显微镜观察方法则难以捕捉到。与 OLYMPUS 流图像分析软件相结合，显微镜简化了从观察到图像分析和报告的检验过程。
的分析工具。
奥林巴斯GX53显微镜的各种观察性能提供清晰的图像，所以用户可对试样进行可靠的缺陷检测。OLYMPUS图像分析软件的新型照明技术和图像采集选项为用户评估试样和记录检验结果提供了更多的选择。
不可见变为可见：混合技术
通过将暗视野及其它观察方法如明视野或偏光结合起来，混合技术可以生成的观察图像。混合技术可使用户观察到使用传统显微镜难以看到的试样，甚至展示出试样表面上的更小高度差。用于暗视野观察的圆形 LED 照明器有一个定向暗视野功能，可以在给定时间内照明一个或多个象限。这就减少了试样的晕光，并有助于将其表面纹理可视化。
强调用户舒适度的设计
显微镜的人体工学设计使得用户的工作体验更佳舒适，以进行更有效的检查。当与OLYMPUS stream软件配合使用时，操作员可以轻松获取不同试样的图像，进行各种分析，并生成专业报告。
轻松切换观察方法
显微镜支持明视野、暗视野、鉴别干涉对比（DIC）以及简单的偏振光观察。
使用专用操纵杆在明视野和暗视野之间快速切换。
增加 DIC仅需要增加一个滑块。
丰富配件选择
滤光片将试样曝光光线转化为各种类型的照明。根据您的观察需求选择合适的滤光片。
显微组织中的晶粒尺寸测量晶粒尺寸和分析铝、铁素体和奥氏体等钢的晶体结构以及其他金属的显微组织。支持标准：ISO, GOST, ASTM, DIN, JIS, GB/T铁素体晶粒的显微组织
晶粒度截线法解决方案 第二相的晶粒度面积法解决方案
颗粒分析 – 计数和测量解决方案
计数和测量解决方案使用高级阈值法，能够可靠地分离目标（如颗粒和划痕）与背景。可使用超过50种不同的参数对样品进行测量或评级，包括形状、大小、位置和像素特性等。
常规软件晶界不清晰
侵蚀后 的钢的显微组织（原始图像）
奥林巴斯Stream晶界清晰可辨
评估石墨球化率评估铸铁样品（球墨/蠕墨）的石墨球化率及含量。对石墨节点的形态、分布和大小归类。支持标准：ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T显示球状石墨结构的延性铸铁
铸铁解决方案
解决方案 | 支持标准 |
截点法晶粒度 | ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002 |
面积法晶粒度 | ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002 |
铸铁 | ISO 945-1: 2010, ISO 16112: 2017, JIS G 5502: 2001, JIS G 5505: 2013, ASTM A247: 16a, ASTM E2567: 16a, NF A04-197: 2004, GB/T 9441: 2009, KS D 4302: 2006 |
夹杂物视场 | ISO 4967 (方法 A): 2013, JIS G 0555 (方法 A): 2003, ASTM E45 (方法 A): 2013, EN 10247 (方法 P 和 M): 2007, DIN 50602 (方法 M): 1985, GB/T 10561 (方法 A): 2005, UNI 3244 (方法 M): 1980 |
标准评级图对比 | ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945: 2008, ASTM E 112: 2004, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, ISO 4505: 1978, SEP 1572: 1971, SEP 1520: 1998 |
涂层厚度 | EN 1071: 2002, VDI 3824: 2001 |
