从宏观到微观 — 让缺陷无处遁形
- 大4倍的视野
- 为了检测宏观缺陷,Leica DM8000 M 和 DM12000 M 带有可以 快速扫描大样品的微观/宏观模式。宏观放大功能可以摄取 约 40 mm 的视野 ― 几乎比传统扫描物镜大 4 倍。在极短的 时间里就可以对整个扫描区域进行精确的缺陷扫描。
- 通过按键改变您的观察
- 如果您想更近距离地观察,只需按下一个键,从宏观模式切 换到微观模式而且可以选择暗场、明场或微分干涉相衬观察 缺陷。按下另一个键可以切换至分辨率更高的 UV 模式或带 来全新视觉体验的 OUV 模式。节省宝贵的时间。
- 新的相衬技术带来超高分辨率
- 斜射照明是观察边角或芯片的工具,而紫外线对于 获得更高分辨率是非常有用的。的 OUV 模式组合了这 两种技术。从各个侧面、用 3D 和分辨率观察样品。
- 深度暗场相衬
- 深度暗场相衬显示了比传统光学技术多得多的样品细节。而 且较大的工作距离还可以保护样品在检验过程中不会由于大 意而受到损坏。
针对严苛的生产环境
- 保持使用环境的清洁
- Leica DM8000 M/DM12000 M 内置有 LED 照明。您会注意到这 种巧妙设计对您的工作环境的影响:没有了碍事的灯罩,显 微镜周围的气流更为合理。洁净间的清洁解决方案。
- 高亮度 LED 的使用寿命极长,而耗电量却极低。无需更换灯 泡,也不用为了进行维护而关机。有助于环保,同时节约成 本,还可以提高生产率。
- 连续操作
- 电动物镜转换盘带有保护罩,和整个系统一样也是针对最严 苛的洁净间要求设计的。这种解决方案可以让显微镜在严苛 的条件下长期使用。
- 样品的有效保护
- 聚焦停止功能采用机械和电子方式协同工作,保护样品不会 受到意外损坏。更大的聚焦纵向调节范围和可以单独延伸的 工作距离可以适应不同的样品高度,从微电子零部件到抛光 的金属切片、复合材料或矿物。
- 系统集成意味着一体化的供应
- 有了 Leica DM8000 M/DM12000 M,您就拥有了一套完整的 系统:搭配的显微镜、摄像头和 Leica Application Suite (LAS) 软件。
- 还可以选择晶片装入设备,真空晶片夹等匹配附件和安装 INSPEC IS 检验软件或 INSPEC TF 薄膜厚度测量软件,把 Leica DM8000 M/DM12000 M 升级成为一个检验系统。
的人体工学与便捷性
- 人体工学意味着更高的质量
- 事实已经证明按照人体工学设计的工作场所有助于提高生产率和工作质量。可以单独调节的人工学镜筒和高度可调的聚 焦按钮能够满足不同用户的要求,Leica DM8000 M/DM12000 M 非常适于日常检验和其它用途。
- 所有控制装置都易于操作,用户的双眼和双手无需离开显微 镜就可以切换至不同的相衬技术或照明。摄像头的快门释放 键也集成在显微镜支架上。方便用户,节约时间。
-
- 帮助防止用户犯错
- 即使是毫无显微镜使用经验的用户也可以很容易地使用 Leica DM8000 M/DM12000 M。控制装置通过记忆功能被预先分配好,从而减少了操作出错的风险。
- 智能支持
- 利用内置的相衬管理系统,按下按钮即可选择相衬 ― 相应地调整相关参数。内置的照明管理系统可以根据所选物镜自动调节照明。超简单的操作有助于避免错误和节省时间。
- 为了检验空白晶片等强反射表面,还有一个焦点探测器的智能功能,可以快速对焦感兴趣的细节。
- 在技能水平不同的多个用户使用同一台显微镜时,不同的用户可以轻松而明确地确定各自的检验任务。
产品参数 | |
参数/型号 | Leica DM 12000M |
光学系统 | Leica HC光学器件(光学系统校正至无限远) |
观察镜筒 | 三目人工学镜筒,直立和同向图像 |
切换位置(目镜/摄像头): 100/0 和0/100,100/0 和50/50 | |
宏观成像 | 超广视野概览图像,样品上扫描区域40 mm |
照明系统 | 全LED入射光照明;观察技术:亮场、暗场、微分干涉相衬、定性偏振、斜射照明、紫外线、斜射紫外线 全LED透射光照明;观察技术:亮场、定性偏振 |
状态反馈 | 正面的状态指示器 |
工作间隔指示器(仪器背面) | |
操作支持 | 内置相衬管理器及科勒照明管理系统 |
显微镜载物台 | 手动检验载物台12 x 12;302 x 302 mm移动范围,内置快速调节 |
扫描载物台12x 12;302 x 302 mm移动范围,电动,4 mm高度 | |
控制单元 | 操纵杆,带4个可自由编程的功能键 |
Leica SmartMove,x、y、z控制,带4个可自由编程的功能键 | |
Leica STP6000 SmartTouch, x、y、z控制,带4个可自由编程的功能键 | |
物镜转换盘 | 电动、亮场/暗场物镜 (M32)、6 位置 |
聚焦 | 耐用型手动2级聚焦,粗调和微调模式; 35 mm移动范围;高度可调式聚焦手柄 |
精准3级聚焦,粗调、微调和超微调模式; 35 mm调节范围;高度可调式聚焦手柄 | |
电动2级聚焦; 35 mm移动范围;强重复能力;齐焦补偿 | |
电气系统 | 供电电压:100120/220- -240 V AC (%),50/60 Hz |
重量 | 约52kg(其中显微镜约36.5kg) |
应用 | 圆晶、电子元器件、金属、陶瓷、高分子材料、粉尘颗粒 |
外观尺寸