探针台| 硅光自动探针台TS3000-SiPH-仪表网

公司介绍主营产品

公司成立于2011年，总部设在深圳，并在北京、南京、成都、西安、重庆、香港等地都设有全资业务办事处。客户主要涵盖国家颇具影响力的企业、研究所、大学教学研究机构和大型工厂等。公司成立至今，先后引进美国、欧洲、日本等*设备与技术，涉及各种微波射频器件，配件（MPI射频探针，探针座，Maury微波校准件，同轴校准和波导校准件，网络分析仪端口线缆，射频微波连接器，精准衰减器，Maury计量转接器）系统集成，测试仪器。技术服务包括在片测试技术咨询、系统集成解决方案、建模等服务。其中，系统集成解决方案服务是我们的一大特色，公司紧跟趋势，拥有各类不同探针台在片集成技术，凭借着多年的行业经验及技术积累，我们可以为客户提供半导体晶圆、材料、光电及封装等等应用方向的测试测量探针台系统及其集成方案。主要包括，半导体微波THz在片方案、光电测试、高低温环境下的EMMI测试、5G系统的计量测试、硅光在片测量、X光辐照总剂量在片测试系统、材料电特性测试系统解决方案、雷达和通信对抗测试系统等。

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探针台| 硅光自动探针台TS3000-SiPH

探针台| 硅光自动探针台TS3000-SiPH 产品详情

TS3000 SiPH 硅光自动探针系统

TS3000-SiPH 功能集提供：

高精度光纤对准系统，在双定位器或单定位器设置中为单个或光纤阵列提供的灵活性
通过将晶圆包括在光纤接近检测和光纤防撞中，实现的操作
推荐的器件测试温度为-40 ... 100°C; 系统性能-60 ... 300°C
通过在专用测量架中集成额外的硅光子仪器，限度地减少系统占用空间

专用于硅光子晶圆在片测试：

包括各种高精度光纤选项用于超快速扫描程序的对准系统
O-O，O-E，E-O和E-E设备配置的多种测量功能
集成Z感应，用于检测光纤到晶圆接触点
使用两个光纤臂时的防撞保护
建议温度范围为-40至100°C，系统支持-60°C至300°C的全范围

灵活的可扩展性：

MPI IceFreeEnvironment™，即使在负温度下，也可同时使用MicroPositi和探针卡
可编程显微镜移动更自动化和容易使用。
IC测试仪的最短电缆接口
最小化mmW的压板到卡盘距离
并使用有源探头进行探测，
支持电帧探测

人体工程学设计：

从正面轻松装载晶圆或单个DUT
集成主动隔振
集成的探针控制，更快，更安全方便的系统和测试操作
安全测试管理（STM™），具有自动露点控制功能
由于智能冷却器空间布置，减少了占地面积
仪器架选项，适用于较短的电缆和更高的测量动态

关键词：显微镜冷却器

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