半导体静态参数测试仪特点
高电压：支持高达3.5KV高电压测试（蕞大扩展至12kV）；
大电流：支持高达6KA大电流测试（多模块并联）；
高精度：支持uΩ级导通电阻、纳安级漏电流测试；
模块化设计：内部采用模块化配置，可添加或升级测量单元；
测试效率高：可自动切换、一键测试；
温度范围广：支持常温、高温测试；
兼容多种封装：根据测试需求可定制夹具；
系统参数
项目 | 参数 | |
集电极-发射极 | 蕞大电压 | 3500V(可拓展至12KV) |
最大电流 | 1000A(可拓展至6000A) | |
准确度 | ±0.1% | |
大电压上升沿 | 典型值5ms | |
大电流上升沿 | 典型值15μs | |
大电流脉宽 | 50μs~500μs | |
漏电流测试量程 | 1nA~100mA | |
栅极-发射极 | 蕞大电压 | 300V |
蕞大电流 | 1A(直流)/10A(脉冲) | |
准确度 | ±0.05% | |
最小电压分辨率 | 30μV | |
最小电流分辨率 | 10pA | |
电容测试 | 典型精度 | ±0.5% |
频率范围 | 10Hz~1MHz | |
电容值范围 | 0.01pF~9.9999F | |
温控 | 范围 | 25℃~200℃ |
准确度 | ±2℃ | |
测试项目
二极管：反向击穿电压VR、反向漏电流IR、正向电压VF、 正向电流IF、电容值Cd、I-V曲线、C-V曲线
三极管：V(BR)CEO、V(BR)CBO、V(BR)EBO、ICBO、VCE(sat)、VBE(sat)、IC、IB、Ceb、 增益hFE，输入特性曲线、输出特性曲线、C-V特性曲线
Si MOS/IGBT/SiC MOS/GaN HEMT：V(BR)DSS/V(BR)CES、IDSS/ICES、VCE(sat)、RDS(on)、VSD/VF、VGS(th)/、VGE(th)、IGSS/IGES栅极内阻Rg、输入电容Ciss/Cies、输出电容、Coss/Coes、反向传输电容Crss/Cres、跨导gfs、输出特性曲线、 转移特性曲线、C-V特性曲线
光耦(四端口以下)：IF、VF、V(BR)CEO、VCE(sat)、ICEO、IR、输入电容CT、输出电容CCE、 电流传输比CTR、隔离电容CIO
测试夹具
针对市面上不同封装类型的硅基功率半导体，IGBT、SiC、MOS、GaN等产品，普赛斯提供整套测试夹具解决方案，可用于T0单管，半桥模组等产品的测试。
半导体静态参数测试仪认准武汉生产厂家普赛斯仪表，普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、高电流脉冲源表、高电压源测单元等测试设备，广泛应用于广泛应用于半导体测试行业； 本功率器件静态参数测试系统可以完成多项参数测试，如ICES、IGESF、IGESR、BVCES、VGETH、VCESAT、VF等。
