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K-MAC公司的OSP产品(ST2080-OSP)用于测量PCB/PWB铜基板上OSP涂层的厚度,通过分析薄膜表面和基板表面反射光产生的干涉进行测量,该技术是一...
产品名称:光学薄膜测厚仪ST2000产品型号:详细信息产品简介:使用K-MAC公司的*光谱系统,可以很快、很容易地测量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系数
光学薄膜测厚仪ST80009(大型)
产品名称:OSP膜厚测量仪产品型号:ST4080-OSP 非接触、非损坏、精确的OSP镀层厚度测量 操作快捷、简单
产品名称:薄膜厚度测量仪产品型号:ST5030-SL薄膜厚度测量仪ST5030-SL技术参数:活动范围300mmx300mm测量范围100~35㎛(Depend...
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