详细摘要: 可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察
产品型号:所在地:苏州市更新时间:2023-01-17 在线留言英菲洛精密科技(苏州)有限公司
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详细摘要: 可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察
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