详细摘要： 场发射扫描电镜semiron5000是高分辨率FE-SEM扫描电镜,也是肖特基型高分辨率FE-SEM,采用65锥形物镜，专为大样本检测而*化-无限制分析附件的短...
产品型号：FPSER-Semiron5000所在地：更新时间：2024-05-05 在线留言孚光精仪（中国）有限公司
孚光精仪（中国）有限公司
详细摘要： 场发射扫描电镜semiron5000是高分辨率FE-SEM扫描电镜,也是肖特基型高分辨率FE-SEM,采用65锥形物镜，专为大样本检测而*化-无限制分析附件的短...
产品型号：FPSER-Semiron5000所在地：更新时间：2024-05-05 在线留言
详细摘要： 高分辨率扫描电镜AIS2500C配备了LaB6，以便获得高分辨率扫描电镜SEM图像
产品型号：FPSER-AIS2500C所在地：更新时间：2024-05-05 在线留言
详细摘要： 科研级SEM电镜采用小型扫描电镜结构设计，适合高校等科研院所获得SEM图像,放大倍率为20-30000X,可在办公室使用
产品型号：FPSER-Ais2000C所在地：更新时间：2024-05-05 在线留言
详细摘要： 科研级扫描电镜采用小型SEM结构设计，适合高校等科研院所SEM图像采集,放大倍率为20-20000X,可在办公室使用
产品型号：FPSER-Ais1800c所在地：更新时间：2024-05-05 在线留言
详细摘要： 桌面型扫描电镜是结构紧凑的微型SEM,桌面型的扫描电镜结构使得它非常适合各种SEM图像获取应用
产品型号：FPSER-AURA200所在地：更新时间：2024-05-05 在线留言
详细摘要： 平面度和应力测试仪可非接触式测量各种反射硅片和玻璃表面平面度、波纹度和薄膜应力,广泛用于晶圆硅片、反射镜、金属表面或抛光聚合物
产品型号：FPOEG-Flatscan所在地：更新时间：2024-05-05 在线留言
详细摘要： 晶圆金刚石划片机MR200为结构化硅片的限定切割和高精度划线而设计,特别适合半导体行业中的REM制备,还适用于实验室对芯片单体化划片或切割
产品型号：FPOEG-MR200所在地：更新时间：2024-05-05 在线留言
详细摘要： 电子自准直仪是电子准直的自动准直仪器,具有电控内焦功能.电子自准直仪EFAM是具有电动内部聚焦功能的准直自准直仪,使用相机和图像处理系统来记录测量值
产品型号：FPOEG-EFAM所在地：更新时间：2024-05-04 在线留言
详细摘要： 红外自准直仪是专门为1550nm波长设计的电子红外自动准直仪器,具有电子图像评估功能和1弧秒的精度
产品型号：FPOEG-EAC500所在地：更新时间：2024-05-04 在线留言
详细摘要： 光学镜头测量仪是为光学镜头和光学模组分析测试设计的光学镜头分析测试仪器,满足镜头经典光学参数的测量系统,如EFL（焦距）（正/负）、BFL、FFL、半径（凹/凸...
产品型号：FPOEG-OTS200所在地：更新时间：2024-05-04 在线留言
详细摘要： 显微光学传递函数分析仪MTFMicro是为极短焦距的微光学元件设计的光学传递函数测试仪器,它在5个像场点和焦点测量MTF切向和矢状
产品型号：FPOEG-MTFmicro所在地：更新时间：2024-05-04 在线留言
详细摘要： 高精度光学传递函数测量仪是六轴电动MTF测试仪器,软件控制MTF测试分析,满足有限/有限对象/图像共轭光学测量应用
产品型号：FPOEG-Master2000所在地：更新时间：2024-05-04 在线留言
详细摘要： 12英寸晶圆轮廓仪是为半导体晶圆形貌测量设计的多功能晶圆形貌仪器，集成光学传感器,实现无接触地测量样本
产品型号：FPALT-altisurf530所在地：更新时间：2024-05-03 在线留言
详细摘要： 这款三维表面轮廓仪是进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器，也是一款光学轮廓仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析，以标准方案或定制性方案对2D轮廓或三维轮廓表面...
产品型号：FPALT-altisurf520所在地：更新时间：2024-05-03 在线留言
详细摘要： 微型台式扫描电镜是结构紧凑的科研SEM,桌面型的扫描电镜购置使得它非常适合各种SEM图像获取应用
产品型号：FPSER-AURA100所在地：更新时间：2023-09-12 在线留言
详细摘要： 电镜原位等离子体清洁器EM-KLEEN可用于电子显微镜和分析仪器（如SEM、FIB、TEM、XPS和SIMS）的样品和真空室的原位清洁
产品型号：FPPIE-EM-KLEEN所在地：更新时间：2023-09-12 在线留言
详细摘要： 四探针方块电阻测量仪是为SheetResistivity薄层电阻率测量设计的四点探针电阻测量仪器,满足各种材料的薄层电阻率测量,包括IV族半导体、金属和化合物半...
产品型号：FPTOH-4PP所在地：更新时间：2023-09-12 在线留言
详细摘要： 薄膜测厚仪TohoSpec3100是高精度薄膜厚度测量系统,采用小光斑光谱反射计获得薄膜厚度信息,可靠的固态线性二极管阵列可快速、精确地测量单层薄膜，如氧化物、...
产品型号：FPTOH-TOHOSPEC3100所在地：更新时间：2023-09-12 在线留言仪表网 设计制作，未经允许翻录必究 .
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