详细摘要： 样品容量：全200mm晶片、150mm晶片、晶片碎片和短柱安装样品
产品型号：所在地：更新时间：2023-04-16 在线留言
青岛佳鼎分析仪器有限公司
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详细摘要： CS4800提供高质量的SEM成像、改进的测量精度以及快速、自动化的操作，旨在提高现有生产线的生产力和运营效率，并提高客户的过程控制能力
产品型号：所在地：更新时间：2023-04-15 在线留言
详细摘要： SEMVisionG2的检测组装和处理使微小和浅缺陷的高质量地形图像成为可能
产品型号：所在地：更新时间：2023-04-15 在线留言
详细摘要： Surfscan®SP2和SP2XP系统是KLA革命性的SurfscanSP1平台的第二代产品，用于无图案晶圆检测
产品型号：所在地：更新时间：2023-04-15 在线留言
详细摘要： TOPCON拓普康芯片外观检测设备Vi4202可以全自动检查在晶片上图案化的芯片和在扩展前切割的晶片（表面朝上/背面朝上）中的微小异物和缺陷，并以芯片为单位确定...
产品型号：所在地：更新时间：2023-04-15 在线留言
详细摘要： Hitachi日立电子显微镜SEMS-2600N，于2003年投入使用，用于晶圆检测
产品型号：所在地：更新时间：2023-04-10 在线留言
详细摘要： 200kV相差校正TEM/STEM，平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能通过单极片实现0.078nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX
产品型号：所在地：更新时间：2022-05-27 在线留言
详细摘要： 专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOSGmbH公司(总经理MaxHaider先生)共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适...
产品型号：所在地：更新时间：2022-05-27 在线留言
详细摘要： 现有机型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合，衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regu...
产品型号：所在地：更新时间：2022-05-27 在线留言
详细摘要： 特征尺寸测量用扫描电子显微镜CD-SEMS-8840，适用于6英寸和8英寸晶圆的线宽测试
产品型号：所在地：更新时间：2022-05-26 在线留言
详细摘要： 日立CD-SEM二手现货扫描电镜S-9220适用于8英寸晶圆的监测，CD检测范围0.1~2.0μm，吞吐量45wph，放大倍数1000~300,000
产品型号：所在地：更新时间：2022-05-26 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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