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显微分光光度计

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更新时间:2022-10-29 17:08:53浏览次数:165次

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产品简介

紫外-可见-近红外(200-2500nm)微小样品或样品的微小区域的光谱和色度分析1、透射光谱/成像 2、反射光谱/成像 3、荧光光谱/成像 4、磷光光谱/成像 ......

详细介绍

        美国CRAIC 20/30 PV显微分光光度计,是CRAIC公司的新型号,集成了紫外-可见-近红外光谱仪、拉曼光谱仪、成像系统于一身,根据产品不同,可以做紫外-可见-近红外(200-2500nm)的光谱分析,还可以集成显微拉曼系统,同时科研级光谱仪和高分辨彩色数字成像系统都使用了*的显微镜光路系统及科研级光学接口。结合显微学和光谱学的优势,用于微小样品或样品的微小区域的光谱和色度分析,并通过对样品的反射、透射、荧光及偏振光谱、拉曼测量,完成微量物样分析。具有科研级高分辨探测器(CCD),半导体制冷探测器,增强稳定性;科研级光学接口,高分辨彩色成像系统。应用软件使用简单,操作方便。

       开创性20/30 PV系列显微微分光度计为全光谱显微谱学设立了新的标准。具有前沿科技水平的20/30 PV系列可在样品采样区域进行吸收、透射、反射、荧光以及拉曼等光谱数据采集和成像。光谱范围从紫外到近红外,具有自动化控制的光谱和图像分析软件,拥有自动化、简便性和长时间稳定性的特性。20/30 PV系列可应用的领域包括材料科学、工业显微观测、法医痕迹鉴证、生物样品分析测试等。

      高灵敏度固体阵列探测器使用热电冷却,具有较高的信噪比和长时间稳定性。高分辨数字成像系统通过CCD收集深紫外和近红外照射后样品的高分辨彩色图像。完善而强大的软件功能不仅控制显微镜、光度计和数字成像,还能提供*的分析处理能力,如薄膜厚度测量等。
 

测量结果:
1、透射光谱/成像                
2、反射光谱/成像                                      
3、荧光光谱/成像                                   
4、磷光光谱/成像                                    
5、偏振光谱/成像                                           
6、拉曼光谱                                               
7、膜厚测量、色度测量、折射率测量


主要参数:

光谱范围 200-2500nm
成像 深紫外到近红外
荧光光谱范围 300-1000nm
荧光激发 250-546nm
采样面积 1-100um
光谱分辨率 1-15nm可调
检测器 CCD、InGaAs
检测器制冷 热电
扫描时间(全光谱) 4ms

 
Apollo II 拉曼显微光谱

激发源
波长(nm) 405、532、638、785、830
带宽 <0.02nm
输出功率 50-100mW
光谱仪
光谱范围 50-3000cm-1
光谱分辨率 10cm-1
采样区域 1um(10X@785nm)

                                                        
主要特点

  • 稳定、可靠、高性能
  • 紫外-可见-红外 吸收、反射、荧光光谱及成像
  • 可集成1-3个激发源
  • 可升级共聚焦显微镜
  • 可选高空间分辨率拉曼光谱Mapping
  • 可选拉曼动态显微镜
  • 提供NIST可追溯样品

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